中古 TERADYNE J750 #9167808 を販売中

TERADYNE J750 Final Test機器は、革新的なネットワークアーキテクチャを利用して、高スループットと広範なデータ管理を費用対効果の高いパッケージで実現する高度で高性能なテストプラットフォームです。これは、システム・オン・チップ、メモリ、ミックスド・シグナル・アプリケーションなど、高性能のウェハレベル、機能的および最終的なデバイス・テスト・アプリケーション向けに設計されています。TERADYNE J 750は、より大きなテストカバレッジと高いデバイス歩留まりを提供するために開発されました。このテストユニットはスケーラブルなネットワークアーキテクチャを統合しており、ユーザーは非定型の高スループットで大量のデータにアクセス、保存、管理できます。高いチャネル並列性、最先端のテスター速度、大きなチャネル数を可能にすることで、テストプロセスのスループットを向上させることができます。さらに、マシンの分散スイッチアーキテクチャにより、ユーザーはテストコストを削減し、より制御可能なテストプログラムを作成することができます。また、J750は完全に統合されたユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェイスを備えており、テスターのセットアップを合理化するのに役立ちます。効率的なプログラミングと故障診断を可能にするため、ユーザーはテスト中のデバイスを簡単かつ迅速にデバッグできます。さらに、高度なデータ分析機能を備えており、ユーザーはデバイスの微妙な欠陥を検出し、それらの欠陥のために特別にテストを調整することができます。このツールには、さまざまな標準および高度なテスト技術が搭載されているため、高性能なテストプラットフォームです。その多くの技術には、複雑なアナログおよびミックスド・シグナル・デバイスの高精度な測定を提供する時間認識静電容量測定が含まれています。また、高圧パワーデバイスの広範なテストを可能にする高度な高圧技術も含まれています。J 750には広範なオンボードデータストレージもあり、テスト結果を保存および再生するための解決策をユーザーに提供します。これにより、詳細なプロセスモニタリングだけでなく、データの相関や診断分析も可能になります。TERADYNEのテストエンジニアのエキスパートチームは、カスタムテストアプリケーションの追加サポートを提供し、すべてのユーザーにとって貴重なリソースとなっています。最後に、TERADYNE J750 Final Testモデルは汎用性と強力なテストプラットフォームであり、費用対効果の高いパッケージで最大限のテストカバレッジとデバイスの歩留まりを提供するように設計されています。革新的なネットワークアーキテクチャ、高度なテスト技術、ユーザーフレンドリーなソフトウェア、オンボードデータストレージを備えています。そのため、ウエハレベルから機能テスト、最終デバイステストまで、幅広いテストアプリケーションに最適な機器です。