中古 TERADYNE J750 #9167072 を販売中

TERADYNE J750 Final Test装置は、優れた試験カバレッジを提供し、複雑な半導体デバイスのデバイス歩留まりを向上させるために設計された次世代の試験および検査プラットフォームです。スケーラブルなハイスループットテスターで、フットプリントが小さく、今日の小型フォームファクタパッケージのテストに最適です。TERADYNE J 750は、幅広いアプリケーションのテストに最適であり、高ピン数の半導体デバイスを介して低ピン数をテストするための予測可能で低リスクのソリューションを提供します。このシステムは、最適化されたアーキテクチャを使用して、より高いテスト精度、低いテストコスト、およびテストカバレッジの向上を達成し、デバイスの歩留まりを向上させます。J750は、高速デジタル信号プロセッサ（DSP）チップセットを備えており、高速ピンカウントデバイス用のテストパターンを迅速に処理します。このユニットは、高度なテストアルゴリズムと堅牢な診断をサポートするように設計されたリアルタイムテストシーケンスおよび制御マシンを使用しており、ユーザーは最新のテストイノベーションを活用することができます。高度なクローズドループ制御および測定ツールは、迅速かつ正確な試験結果を保証します。J 750は、カスタムテストソリューションをテスターアーキテクチャに簡単に統合できる柔軟性を提供し、ユーザーはテストカバレッジをさらに高めることができます。直感的で使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイスにより、デバッグやトラブルシューティングのプロセスが簡素化され、生産性が向上します。また、アセットにはカスタムデバイスドライバの豊富なライブラリが用意されており、デバイスをテストモデルに迅速かつシームレスに統合できます。TERADYNE J750最終試験装置は、強力で信頼性が高く、費用対効果の高い試験および検査ソリューションです。高度なアーキテクチャと機能により、今日の非常に複雑な半導体デバイスのテストに理想的なシステムとなり、ユーザーはデバイスの歩留まりを最小限に抑えることができます。