中古 TERADYNE J750 #9101818 を販売中

TERADYNE J750は、電子デバイスの生産試験およびエンジニアリング検証用に特別に設計された高性能の最終試験装置です。このシステムは、ベアダイやカプセル化ダイ、プリント回路基板、ハイブリッド部品、マルチチップモジュール、混合信号基板など、さまざまな半導体、医療機器、工業製品の試験に適しています。TERADYNE J 750は、生産スループットを実現し、困難な設計をテストするための費用対効果の高いソリューションを提供します。ユニットパフォーマンスを最大化し、高速かつ高精度な生産試験と検証を可能にするように設計されています。このマシンは、業界をリードするソフトウェアプラットフォームと高度な測定技術を統合しており、テストの合理化、生産性の向上、および最先端のテストニーズをサポートします。J750は、電子製品の迅速で信頼性の高い生産のための高度で統合されたRFおよびツールレベルのテストプラットフォームを備えています。このアセットには、モデルに組み込まれた高速ピン多重化モジュールと信号コンディショニングモジュール、および複数のテストインストゥルメントチャネルが含まれます。信号コンディショニングモジュールは、高精度の電流、電圧、および電力監視、信号解析、および信号生成機能を備えています。統合された高精度試験システムは、自動車、産業機器、通信機器、医療機器、高性能メモリデバイスなど、さまざまな複雑なデバイスを試験することができます。また、デジタル信号の整合性を維持しながら、複数のチップを並列にテストすることができる精密タイムスタンプ同期もサポートしています。また、高度なデータ分析ツールと直感的なユーザーインターフェイスを提供し、プログラミングとテストプロセスを高速化します。J 750は拡張性を考慮して設計されており、さまざまな用途に合わせてユニットをカスタマイズするための幅広いテスト製品とオプションが用意されています。さまざまなサービスとメンテナンスソリューションを提供し、お客様に最新技術へのアクセス、オペレーションのサポート、機械のアップグレード、あらゆる問題に対する迅速な対応を提供します。さらに、複数のツール構成をサポートし、アプリケーションの最大限のテスト範囲と柔軟性を確保します。要するに、TERADYNE J750は、モデル性能を最大化し、テストを合理化するように設計された高性能の最終テスト資産であり、お客様はより高い精度と速度で電子機器を製造およびテストすることができます。この装置は、さまざまな製品のテストに適しており、企業の生産需要を満たすためのさまざまな機能と構成を提供しています。