中古 TERADYNE J750 #9029078 を販売中

TERADYNE J750は、最新の電子技術のメーカーのニーズを満たすように設計された、高度でフル機能のインサーキットおよび機能試験装置です。このシステムにより、幅広い入力ピンと出力ピンを備えた高密度ボードの効率的で正確なテストが可能になります。さらに、TERADYNE J 750は、高い試験精度で、タイトなフォームファクタと高速でコンポーネントをテストすることができます。J750は、重要なノードの高速テストを提供し、大量の本番環境に適しています。高解像度の512 MBメモリを搭載し、高速な交換機能を備え、ユーザーに最大限の柔軟性を提供します。電流出力はチャネルあたり32mAで評価され、IGBT、パワートランジスタ、SCRなどの高出力デバイスのテストに最適です。J 750は、最新のインサーキットおよび機能試験技術を搭載しています。これは、高速ブート機能と強化されたメモリパフォーマンスを組み込んだ改訂された内部アーキテクチャを備えています。このマシンはまた、高精度の試験のための高速校正機能を備えており、産業用途に適しています。TERADYNE J750ツールには、アクセスとサポートを向上させる3軸の標準フロアプランもあります。高密度処理の要求に応えるために拡張可能です。さらに、ハードウェアと運用コストを削減するための高度なアイソレーション技術を搭載しています。最高レベルの試験精度を確保するため、TERADYNE J 750アセットは強力で堅牢なデータ分析パッケージを備えています。このモデルは、高解像度の欠陥検出とローカリゼーション機能を提供し、迅速な問題の特定とトラブルシューティングを可能にします。また、製品の性能と品質管理を確実にするために、統計的受容レベル制御が強化されています。さらに、J750には高度なプログラマビリティとリモートプログラミングが装備されています。これにより、ローカル端末またはリモート端末から同じテストプログラムにアクセスできます。これにより、エラー処理、トラブルシューティング、およびサポートコストを最小限に抑えることができます。J 750は、最高のテスト精度と柔軟性を提供するように設計されています。その内部回路および機能テスト機能、フロアプラン、データ分析パッケージ、強化された統計的受容レベル制御、およびプログラマビリティとリモートプログラミングなどの主な機能は、すべて、信頼性の高い正確なテスト結果を提供する能力に貢献します。これにより、最新のテクノロジーソリューションに最適です。