中古 TERADYNE J750 #293639895 を販売中

TERADYNE J750は、複雑な半導体デバイスの生産を容易かつ効率的にするのに役立つ、高性能で高度な最終試験装置です。オンライン、インライン、または手動のウェハレベルのテストのための完全なソリューションであり、高速で柔軟なテストアプリケーションで高いレベルの測定精度を提供します。TERADYNE J 750は、最新のアライメント、スキャン、およびテストカード調整技術を使用しており、高精度のアライメント機能を提供します。このシステムは、簡単なウェーハロード、ソート、およびテスト準備のためのテスト中に迅速かつ簡単に挿入、終了、および相互接続を提供します。さらに、モジュラー型でスケーラブルなソフトウェアとハードウェアプラットフォームで設計されており、各顧客の個々の要件を満たすことができます。J750は、最大4つのウェーハプローブと1つの高速ピンプローブを処理することもでき、さまざまな種類の試験に対応できます。タイマー、マルチサイト独立測定、マルチテスト機能により、データの取得と分析を高速化できます。このユニットには、最高レベルのビジョンシステムと高度な画像処理が装備されており、正確な結果を保証します。J 750には、高度なプロバ制御、複数のテストヘッド制御、およびホストツーカード通信が含まれています。ジョグスピードコントロール、スキャンテーブルモーション、サーボ位置制御など、さまざまなモーションコントロール機能も備えています。グラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を使用すると、ユーザーはマシンを制御および監視し、設定を構成して測定結果を確認できます。テストデータ管理のために、TERADYNE J750は、ディスクドライブやデジタルレコーダーカードなど、さまざまな出力デバイスにテスト結果を保存することができます。このツールは、業界標準のプロトコルや通信とも互換性があり、さまざまなプラント全体のネットワークや資産環境に簡単に統合できます。全体的に、TERADYNE J 750は、さまざまな顧客のニーズを満たすように設計された汎用性と強力なモデルです。テストおよびアセンブリ要件の変更に迅速に構成および適応する機能は、半導体デバイスの製造およびテストに最適です。