中古 TERADYNE J750 HD #9373186 を販売中

TERADYNE J750 HDは、基板製品の高速、最適化されたパラメータ試験用に設計された最終試験装置です。これは、製品の複雑さと生産量の広い範囲をカバーする、基本的な機能テスト、インサーキットテスト、温度チャンバー試験を実行します。高度なハードウェアアーキテクチャと高スループットを備えたJ750 HDは、テスト実行を合理化し、市場投入までの時間を短縮し、テスト時間の分解能を向上させるように設計されています。このシステムの高密度多用性は、コンポーネント、ボード、システムなどの幅広い製品のテストを容易にします。統合されたアドレッサビリティ、オプトカップリング、フレックス回路試験機能により、TERADYNE J750 HDはより小さなコンポーネントやボードをテストし、ボード上で機能テストを行うことができます。高密度機能により、プロセッサやマイクロコントローラなどの高ピン数デバイスのテストも可能です。J750 HDはまた、極端な温度でテストするための温度チャンバーを備えています。TERADYNE J750 HDは、強力なeServicesソフトウェアプラットフォームを活用して、安全で自動化されたテスト構成とパラメータ設定を行い、さまざまな設計および製造システムと容易に統合できます。eServicesプラットフォームを利用することにより、このユニットはテスト仕様や運用パラメータを含むすべてのデータの制御と監視を可能にします。これにより、情報の正確性と信頼性が保証され、テストプロセス全体が改善されます。J750 HDは堅牢性と柔軟性を兼ね備え、複雑な設計のためのテストソリューションを提供します。複数のリソースを持つこのマシンは、集積回路の機能テストやインサーキットテストなど、さまざまな種類のテストに使用できます。このソフトウェアは、大量の生産プロセスのニーズを確実に満たすために構成可能でアップグレード可能です。全体として、TERADYNE J750 HDは、大量の生産エリアに高速検出とテスト時間分解能を提供するように設計されています。強力なハードウェアアーキテクチャと統合ソフトウェアにより、機能性と汎用性の強力な組み合わせを呼び起こします。このツールは直感的な操作性と拡張性で際立っており、さまざまな設定でさまざまな製品をテストすることができます。J750 HDは、あらゆる生産環境にとって貴重な資産です。