中古 TERADYNE J750 EX #9359640 を販売中

TERADYNE J750 EXは、高度なデバイス技術試験用に設計された最終試験装置です。半導体デバイスメーカーは、統合デバイスメーカー（IDM）、アウトソーシングアセンブリおよびテスト運用（OSAT）、ファブレスソーシングメーカーなどが使用しています。このシステムは、NiP、 eDRAM、グラフィックスなどの複数の技術をテストする機能を備えたユニットオンチップデバイスなどの非常に高度なデバイスに対応するように設計されています。このマシンには、最新かつ最先端の技術が組み込まれており、高速スループットで安全なテスト環境を実現します。これらの技術には、基板間通信のための高密度、高速ツール・オン・チップ（SoC）バス、モデルおよびデバイス構成のための高速な組み込みスマートアセットプロセッサ（SSP）、デバイスと機器プロセッサ間のスプリットバスが含まれます。このシステムには、さまざまなデバイス技術を正確にテストするために使用される多数の独立したテストボードも含まれています。これらのテストボードは、同じボード上のデバイスをテストすることができ、同時に、スループットを最大化し、より高い収率を生成します。このユニットには、低コストと高スループットの両方を可能にする業界をリードするパッケージタイプも含まれています。最後に、このマシンには、プロセスの完全な制御を可能にする包括的なデータ収集管理ツールが装備されています。これには、自動データ処理と可視化、統計プロセス制御（SPC）が含まれます。このアセットの機能により、正確で包括的なデータを提供することで、デバイスメーカーがリアルタイムで意思決定を行うことが容易になります。TERADYNE J750EXは、最新のデバイス技術と高性能のために設計された最終テストモデルの優れた例です。それは安全な環境を確保するために最新かつ最先端の技術のいくつかを持っています。また、デバイス技術を正確にテストするための独立したテストボード、低コストかつ高スループットのパッケージタイプ、包括的なデータ収集管理システムも備えています。J 750 EXは、IDM、 OSAT、ファブレスソーシングメーカーなど、デバイスメーカーにとって素晴らしい最終テストユニットです。