中古 TERADYNE J750 EX #9311622 を販売中

TERADYNE J750 EXは、高度な電子機器の「最終試験」用に設計された高性能自動試験装置です。TERADYNEの業界で実績のある柔軟なJ750プラットフォームに基づいています。このシステムは、コンパクトなフットプリントで速度、精度、汎用性、信頼性を兼ね備えています。TERADYNE J750EXは、半導体およびその他の電子機器メーカーの幅広い要件を満たすように設計されており、DRAM、フラッシュメモリ、ROM、 MCU、 CPLD、ディスクリート、マイクロコントローラなど、さまざまなデバイスの大量生産試験および特性評価が可能です。このユニットは、特許取得済みのレーザーベースのアーキテクチャを利用して、拡張可能なマルチポートマシン構成と複数のデータバスを採用しています。J 750 EXは、業界最速のドライウェーハスループットを備えた高速機能を提供します。高度な2ピーステストモジュール設計により、デバイスの両側に最大400ピン/インチの高密度ピン密度を同時に可能にし、統合された高電圧設計は、複数の電圧レベルを同時にサポートする柔軟性を備えています。このツールには、MicroScope変調電圧ネットワーク、マイクロ波周波数テストモジュール、フレックスプローブ、設計されたテストモジュールシステム、さまざまなテストアダプタなど、幅広い統合モジュールが含まれています。また、高度なNetwork CommandCenter （NCC）ソフトウェアによるリモートプログラミング、ProCOMデータベースサポート、さまざまな標準化されたプログラミング言語など、幅広いプログラミングオプションを提供しています。J750EXには、根本原因の解析と修復を自動化するための強力な診断機能が含まれています。独自のSCRIBEソフトウェアスイートは、リアルタイムのグラフィカルエラー検出および分析とともに、包括的な診断診断セットを提供します。統合されたデータ分析パッケージは、統計分析とパフォーマンスデータの報告を可能にし、プロセスの改善を可能にします。J750 EXには柔軟で構成可能なアセットアーキテクチャが付属しており、お客様の要件に合わせて簡単にカスタマイズできるため、今日の厳しいテスト要件に最適なソリューションです。自動化されたツーリング機能が追加されているため、多軸、マルチプローブ、自動車および医療機器のテストに最適なソリューションです。このモデルは比類のない機能の組み合わせを提供し、テストシステムのマーケットリーダーとなっています。TERADYNE J 750 EXは、先進技術、機器性能、診断、プログラミング、カスタマイズ可能なアーキテクチャの組み合わせにより、エレクトロニクスメーカーにとって理想的なシステムとなります。