中古 TERADYNE J750 EX #9281055 を販売中

TERADYNE J750 EXは、半導体デバイスの製造に使用される最先端の最終試験装置です。このシステムは、あらゆるICメーカーに堅牢で信頼性の高いテストソリューションを提供するように設計されています。このユニットは、高精度の低電力テストヘッド、高度なコントローラ、およびデータ収集ユニットで構成されています。テストヘッドは、精密電流および電圧測定のための高度なハードウェアコンポーネントを採用しており、最大10Kピンのデバイスと1基板あたり最大10,000ノードのデバイスをテストすることができます。高度なコントローラは独自のアルゴリズムを使用してテストヘッドからのデータを分析し、最高の精度を保証します。データ収集ユニットは、効率的なデータ保存を可能にし、他の試験装置またはインテリジェントオートメーションシステムに転送します。TERADYNE J750EXの柔軟なソフトウェアインターフェイスにより、設計者は専門的な状況に関するテストを迅速に開発できます。ユーザーフレンドリーなソフトウェアは、直感的なコマンドラインインターフェイスを提供し、ユーザーは診断とテスト結果にリアルタイムでアクセスできます。ユーザーは、デバイスごとにテスト、しきい値、合格/失敗基準を簡単に定義でき、生産までの時間を短縮できます。このマシンは、コンポーネントの損傷から保護するために冗長性とESD、 EMI、および熱監視を備え、製造性と信頼性が高いように設計されています。その自動コンポーネント識別により、操作が迅速かつ簡単になり、複数のPCベースのテストスイートがボード配置を最小限に抑えて製品のパフォーマンスを保証します。このツールは、手動エラーを排除し、一貫性のある結果を保証するためのキャリブレーションウィザードも提供します。J 750 EXは、フルスクリーンモード、自動テストサイクル、およびハードウェアおよびソフトウェアデバッグ用のグラフィカル診断ディスプレイを備えたユーザーフレンドリーなインターフェイスを提供します。また、インダストリー4。0接続もサポートしており、リモート管理、診断、データ分析が可能です。結論として、J750 EXは強力で信頼性の高い最終テストモデルであり、現代のIC業界が直面する課題に最適です。この機器は、デバイスの自動検出と構成、効率的なテストストレージ、および業界標準のソフトウェアサポートを備えた柔軟で高精度なテスト環境を提供します。このシステムは、あらゆるタイプのICデバイスに信頼性の高い正確なテストソリューションを提供し、あらゆるメーカーにとって貴重なツールとなります。