中古 TERADYNE J750 EX #9279659 を販売中

TERADYNE J750 EXは、複雑性の高いデバイスに高度なテストおよび分析機能を提供するように設計された最終試験装置です。これは、デバイスサプライヤーや生産環境の要求に応えるように設計された完全なエンドオブラインテストシステムです。TERADYNE J750EXは、高速スキャンと境界スキャン機能を使用して、高速で効率的なテストを提供するように設計されています。ユニットはモジュール性を念頭に置いて設計されており、異なる生産ランの要件を満たすために拡張することができます。最大8台のスキャンコントローラで構成でき、高速スキャン、境界スキャン試験、ATEインターフェイス、およびビジョンシステムやマスストレージユニットなどのその他のアプリケーション固有の周辺I/Oに使用できます。J 750 EXはまた、混合技術デバイスを含む複雑なデバイスをテストするために、オンボードインテリジェンスで設計されています。これは、専用のソフトウェアとハードウェアソリューションを使用することによって達成されます。TERADYNE J 750 EXは並列アーキテクチャ構成でも使用でき、複数のテストを同時に実行できます。このマシンは、ネットワークやWebベースのサービス、リモート制御および監視機能などの外部機器との相互作用のための包括的な通信インタフェースを提供します。また、他の機器とインターフェースするためのさまざまなトリガーおよび制御オプションも提供します。J750EXはまた、テストプログラム開発のための高度なソフトウェアとアプリケーション固有のテストプログラムの包括的なライブラリを提供しています。このツールは、テスト範囲の広い範囲を持っています、毎秒最大1億テストのスキャン率と複雑なボードと部品の混合タイプのカバレッジ。これは、一般的な障害を識別し、テスト時間を短縮する高度な障害認識アルゴリズムと、高精度の故障検出機能を備えています。この資産は、容易な実装とメンテナンスのために設計されています。これには、リアルタイムのテスト制御と分析、ならびにグラフィカル結果表示およびデータ分析ツールへのアクセスを提供するグラフィカルユーザーインターフェイスが付属しています。このモデルはカスタマイズ性もあり、パターン生成、基板セットアップ、パラメータ、故障解析、レポート機能の統合と構成を可能にします。要約すると、J750 EXは高度なエンドオブライン試験装置であり、包括的なテストカバレッジ、高度なソフトウェアおよびハードウェアソリューション、および実装とメンテナンスの容易さを備えた、複雑性の高いデバイスの高速かつ正確なテストを提供するように設計されています。デバイスサプライヤーや本番環境に最適なソリューションです。