中古 TERADYNE J750 EX #9250386 を販売中

TERADYNE J750 EXは、今日の大量で複雑な製品テストにおいて比類のない速度と精度を提供する最終試験装置です。マイクロプロセッサ、メモリ、アナログおよびRF集積回路、ディスクリートロジックなど、さまざまなコンポーネントの高速テストを可能にする高度なハードウェアおよびソフトウェア機能を備えています。TERADYNE J750EXは、さまざまなデバイスのテストに必要な柔軟性と速度を提供します。J 750 EXは、複数の高速テスターを使用し、複数の同時テストアプリケーションをサポートしています。このシステムは、最大8つのTester Interface Module （TIM）と、多数の自動ボードハンドラ、プローバー、スパークテスターで構成できます。インテリジェントな設計により、複数の製品を同時にテストできるため、複雑なテストパターンのサイクルタイムを短縮できます。各モジュールは、高密度、高ピン数のデバイスと複数のサブボードを扱うことができ、同時に複数のテストカードのテストを容易にすることができます。J750 EXでのテストのスループットは最大1.2GHzで、ネットワーク全体のパフォーマンスは最大10GHzです。このユニットは、シーケンシャルまたはマルチプロセッシングを問わず、さまざまなテストプログラムをサポートできます。また、フォルトマッピングも内蔵しており、テストエンジニアは欠陥部品を迅速かつ正確に見つけることができます。TERADYNE J 750 EXは、リード付きおよび鉛フリーの両方のデバイスをテストすることができ、そのテストプログラムは、コンポーネントテストマシン（CTS）互換プラットフォーム上のバッチおよびフルステータスデータ分析の両方をサポートすることができます。J750 TXは、TERADYNE Autoslottingテクノロジーにより、最も信頼性の高いテストスロット構成でツールを自動的に設定し、セットアップと拡張を容易にするように設計されています。さらに、この資産は診断、保守、アップグレードが容易に行えるように設計されています。Diagnosticsはモニタ/コンソールインターフェイスからアクセスでき、拡張リアルタイムオペレーティングシステム（RTOS）を使用すると、モデル操作でDiagnosticsを実行できます。要約すると、J750EXは高度で信頼性の高い試験装置です。効率的でパワフルな設計により、大容量で複雑性の高い製品テストを高速かつ正確に行うことができます。Autoslottingテクノロジー、診断機能、その他の機能により、J750 TXは、テストエンジニアが製品開発とテストに時間とコストを節約するのに役立ちます。