中古 TERADYNE J750 EX #9223376 を販売中
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販売された
ID: 9223376
ヴィンテージ: 2015
Tester
Tera computer
TXP-1024 Manipulator
Test head: 1024 Pins
(4) HSD200 (200 MHz, 64 MLVM)
HDDPS 24
CTO
#slot[.subslot] / Type / idprom (type rev company)
-1/ Sli / 239-624-00 1251-A 5445
0 / Channel / 239-700-04 1113-B 5445
0 / Terminator / 239-701-50 0838-A 5445
1 / Channel / 239-700-04 1142-B 5445
1 / Terminator / 239-701-50 0838-A 5445
2 / Channel / 239-700-04 1142-B 5445
2 / Terminator / 239-701-50 0838-A 5445
3 / Channel / 239-700-04 1419-B 5445
3 / Terminator / 239-701-50 0838-A 5445
17 / CTO / 239-029-02 0725-D 5445
18 / Cub / 239-020-09 1423-H 5445
22 / HDDPS24 / 517-470-04 1511-A 5445
2015 vintage.
TERADYNE J750 EXは、半導体、エレクトロニクス、自動車産業における生産フロア業務において、業界をリードする柔軟性、速度、精度、および信頼性を提供する、完全に自動化された最終試験装置です。このシステムは、少量から大容量の集積回路およびコンポーネントまで、複数の製品タイプをテストすることができます。TERADYNE J750EXには、インテルCore i7プロセッサー、48 GB DDR4 RAM、 TERADYNE Proprietary ASICカード、高速PCIeおよびUSB接続など、ユニットのパフォーマンスを最大化する高度なハードウェアコンポーネントが装備されています。J 750 EXはパラレルテストとシリアルテストの両方をサポートしているため、大量の複雑なアプリケーションに最適です。このマシンには、TERADYNE SIFT Toolスイートを搭載した、独自に設計されたアダプティブなインタプリタベースのテストおよび結果解析(T&RA)ツールが内蔵されています。これにより、テスト時間が短縮され、障害検出および診断のためのアルゴリズムが向上します。カスタムテストモジュールとデバッグツールを簡単に統合できるオープンアーキテクチャが付属しています。J750 EXは、故障部品の迅速な診断のための「スマートデバッグ」機能など、いくつかの高度な機能を提供しています。このツールセットは、一般的な物理的欠陥を早期かつ容易に検出するように設計されており、歩留まり率の向上と交換コストの削減につながります。TERADYNE J 750 EXはまた、テスト結果を迅速かつ正確に分析するために設計された高度な統計分析ツールの完全なスイートをサポートしています。最後に、J750EXは、利用可能な最も包括的で費用対効果の高いサポートサービスによって支えられ、資産の使用全体を通じて継続的な信頼性を確保します。TERADYNE J750 EXは、今日の厳しい生産環境で成功するために必要な速度、精度、信頼性を提供する、貴重な最終テストソリューションです。モデルの容易な統合および高度の特徴はそれを装置デザイナーおよび生産エンジニアのための魅力的な選択にします。優れた柔軟性と信頼性の高いパフォーマンスにより、TERADYNE J750EXは、幅広いアプリケーションにおける主要な最終テストオプションです。
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