中古 TERADYNE J750 EX #9178166 を販売中

TERADYNE J750 EXは、高速で複雑なASIC（アプリケーション固有の集積回路）のテストおよびデバッグ要件を満たすように設計された最終試験装置です。特許取得済みのベクターベースのパターン計算エンジンと超高速テスト速度を備えたTERADYNE J750EXは、次世代のデジタルICのテストとデバッグに最適です。J 750 EXは、直感的でユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェイスを介して管理されるすべてのネットワーク接続コンポーネントとシステムを備えた、モジュール構成可能な自動テストセル環境で動作します。メインテストシステムコアは、メインフレーム、コントロールボード、設定可能なプローブカード、およびロジックモジュールで構成されています。メインフレームマシンは9つのテストステーションと2つのデュアルポートネットワークインターフェイスで構成されており、追加のデバイスへの拡張と接続が可能です。メインフレームは4つのドライブバイコネクションもサポートしているため、ツール内の他のコンポーネントを簡単に接続および構成できます。制御ボードはJ750EXの高度な機能の鍵です。これには強力なプログラマビリティとテストシーケンス機能が含まれます。また、制御ボードにはベクトルベースのパターン計算エンジンが内蔵されており、信頼性の高いフォルトカバレッジ測定が可能です。構成可能なプローブカードとロジックモジュールは、テストおよびデバッグシステムをTERADYNE J 750 EXに接続するために必要なハードウェアを提供します。J750 EXのシミュレーション機能は非常に高度であり、試験時間を短縮し、故障箇所の迅速な解決を可能にするために、回路のリアルタイムシミュレーションを作成することができます。TERADYNE J750 EXは、コードカバレッジ分析のための情報を収集するためのテストを実行することもできます。このアセットは、ミックスドシグナルのデバッグ機能もサポートしており、デジタルとアナログの両方のコンポーネントについての洞察を提供します。さらに、TERADYNE J750EXは同時に複数サイトのテスト機能を提供し、複数のサイトで同時にテストを実行できます。要するに、J 750 EXは、市場で最も高度で複雑なASICをテストおよびデバッグするために設計された、強力で包括的な最終テストモデルです。ベクトルベースのパターン計算エンジン、リアルタイムシミュレーション、ミックスシグナルデバッグ、並行マルチサイトテスト機能を備えたJ750EXは、高速で非常に複雑なASICテスト要件に最適なソリューションです。