中古 TERADYNE J750 EX-HD #293824669 を販売中

TERADYNE J750 EX-HDは、高性能の最終試験用途向けに設計された完全自動試験装置です。このシステムは、ハイエンド半導体テストとエージング/故障解析の両方に最適な機能と性能を備えた、さまざまな中規模および高複雑性テストプログラムをホストすることができます。このユニットは、今日の大量生産テストのニーズに対応するための高度な機能と、ハイテクデバイスの故障や欠陥解析に必要な徹底的なデータ分析を提供します。TERADYNE J750 EX-HSは、ATE、機能解析、故障解析など、さまざまなテストプロトコルを実行できる高度なテストプラットフォームです。このマシンのハードウェアコンポーネントには、4つの業界標準オープンシャーシを備えたOpen Fireシリーズのメインフレームがあり、幅広い工具拡張が可能です。このアセットには、4つの10ビット高精度アナログチャンネル、80ロジックチャネル、16ビットのデジタルバスインターフェイスがあります。さらに、VME IOプロセッサ、Global Alignment Model、 Network Interface、および4つのPMI2 IOカードがオプションのハイエンドプラグインモジュールでパフォーマンスを向上させるための機器に含まれています。TERADYNE J750EX-HDシステムを完全にサポートするために、ライブラリ、ユーティリティ、およびソフトウェアツールの幅広い選択が利用可能です。これらには、C、 C++、 VHDL、 Unit C、 Verilog、および幅広いテストスクリプトなど、さまざまなテクノロジータイプのアセンブリ、統合、テスト用のソフトウェアパッケージが含まれます。テストフロープログラムは、ACおよびDC特性評価、ミックスドシグナルオフラインテスト、生産テストなどの高度なテストシナリオにも利用できます。J 750 EX HDには、高度な例外処理、内蔵DFX、二次例外処理、Smart DUT固定、ダイナミック生成も含まれます。TERADYNE J 750 EX HDの特徴は、半導体ハイエンド試験および故障解析に最適です。この機械は最も困難な装置をテストするとき生産性、正確さおよび効率を最大にするように設計されています。冗長または無駄なプロセスを排除することで時間とコストを節約し、複雑でカスタムテストシナリオを実行するための高精度および動的フォルト生成などの高度な機能を提供します。強力なハードウェアと幅広いソフトウェアツールを備えたJ750EX-HDは、ハイエンドのテストおよび故障解析に効率的で信頼性の高いソリューションを提供します。