中古 TERADYNE J750 EX-HD #293757873 を販売中

TERADYNE J750 EX-HDは、高度な半導体デバイスの生産試験用に設計された最終試験装置です。このシステムは、決定論的テストソリューションと非決定論的テスト機能を組み合わせて動作し、今日の最先端チップの最高品質と最も信頼性の高い結果を保証します。マルチスレッド・アーキテクチャを備えており、お客様に最大限のスループットと柔軟性を提供します。このユニットはモジュラー構成を備えており、お客様は特定のアプリケーションのニーズに合わせてマシンを調整することができます。1.6GHz Pentium 4プロセッサと最大6GBのDDR2ツールメモリを搭載し、大きなテストベクトルと複数のベクトルセットを同時に処理することができます。TERADYNE J750EX-HDは、最高のテスト精度と再現性を確保するために、超高速PCI Expressベースのデータ収集および制御アセットも備えています。また、高度なテストスケジューリングやプログラミングツール、リアルタイムデータ解析、波形キャプチャ、外部刺激、トリガー、出力機能など、多くの高度なテストおよび分析機能を備えています。さらに、IEEE Standard Test LibraryやGolden Libraryなど、サードパーティ製のテストライブラリで機器をさらに拡張することができます。このシステムはまた、BIST、 DC、 ACテストなど、多くの一般的なテストパッケージと原則をサポートしています。テスト速度の面では、J 750 EX HDは、同じシリーズの以前のシステムと比較して、最大4倍の持続スループットと10倍のピークスループットを提供します。さらに、このユニットは、最適化された信号ルーティングと強化されたハーネスおよびケーブル配線ソリューションにより、信号整合性が向上しています。さらに、このマシンは、簡単なセットアップとテストのカスタマイズのために設計された直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを備えています。このユーザーインターフェイスはブラウザベースであり、テストプログラムの監視、デバッグ、制御のためのリモートアクセスを可能にします。ユーザーインターフェイスの各インスタンスには、独自の暗号化キーと接続セキュリティプロトコルが装備されているため、場所を問わず安全かつ安全に動作できます。最後に、このツールは、動的デジタル信号処理（DSP）テスト、高速メモリテスト、マルチサイト欠陥絶縁テストなど、幅広い困難なアプリケーションに適しています。高信頼性コンポーネントと高度な電圧およびパワースキャン機能により、最も困難な高電圧およびRFテストアプリケーションに適しています。これらの機能はすべて、EX-HD Final TestアセットJ750、最も先進的な半導体テストアプリケーション向けの非常に強力で汎用性が高く信頼性の高いツールになります。