中古 TERADYNE J750 EX-HD #293586401 を販売中

TERADYNE J750 EX-HDは、電子部品や複雑なアセンブリの製造をより速く、より効率的に、より正確にするために特別に設計された高度な自動試験装置（ATE）ソリューションです。最大試験速度は525 MHZ、アップグレード可能な設計、および最大1425ピンエレクトロニクスおよび420アナログチャネルを備えたこの機器は、大量の生産要件に対応する汎用性の高いソリューションです。不具合のない製品エンジニアリング、高速シリアル通信、高密度アプリケーション、物理解析など、幅広い技術の迅速なスループットと無制限の容量を必要とするアプリケーションに最適です。TERADYNE J750EX-HDは、2つの統合ロードボードアナライザモジュールも提供しており、ユーザーは独自のテストプログラムを設計し、システムのテスト能力を最大限に高めることができます。構成可能なI/OおよびPIAインターフェイスと包括的な視覚障害解析パッケージは、ユーザーに独自のテストプランを作成する機能を提供し、ジョブの進行に応じてテスト条件を変更する柔軟性を提供します。J 750 EX HDは、最先端のテストソリューションをお探しのお客様に多彩な機能を提供します。高精度レーザーセンサを内蔵し、個々の部品のサイズを正確に測定し、最適な生産ライン配置を可能にします。このマシンの強力なデータ収集サブシステムは、10 ビットA/Dコンバータと32ビットフローティングポイントのデジタル信号処理操作を備えています。TERADYNE J 750 EX HDは、さまざまな形式で提供される結果を含むテストレポートのコンパイルと生成も可能です。これには、プログラムの開発、デバッグ、データ分析、テストコードのドキュメント生成を容易にする一連のソフトウェアが含まれています。このツールには直感的なユーザーインターフェイスも付属しており、資産運用に迅速かつ簡単にアクセスできます。EX-HDの最終テストモデルJ750、光学的および電気的特性評価、応力試験、Electroluminescent試験など、さまざまな診断および精度制御対策を提供します。最先端のインタラクティブ機能を実現する統合マイクロプロセッサ、イーサネット、ギガビットネットワーキング、デジタルI/Oを搭載しています。この装置は、4つのテストサイトと最大10,000のテストポイントを備えており、ソフトウェア駆動のデータ収集システムによって利用されています。このユニットには、ボードレベルの問題を検出および分離するために使用できる診断ソフトウェアツールと機能のフルセットが付属しています。結論として、最終試験機J750EX-HDは、エンジニアリングおよび製造業界のメーカーのニーズを満たす強力で機能豊富なATEソリューションです。高速生産能力、包括的なソフトウェア一式、包括的な診断および精度制御対策により、大量の生産要件に最適です。