中古 TERADYNE J750 E #9267899 を販売中

TERADYNE J750 Eは、半導体ウェーハからコンシューマーエレクトロニクス用包装部品まで、さまざまな用途向けに設計された特殊な最終試験装置です。高度な5軸モーションプラットフォームを搭載し、幅広い試験角度で小型・大型パッケージの高速・高精度試験が可能です。このユニットは、デジタル、アナログ、RF、オプトエレクトロニクス部品など、さまざまな部品タイプの精密テスト性能、高いテストスループット、および信頼性の高い再現可能な測定を提供するように設計されています。TERADYNE J750Eは、高度な3D Computer Aided Design （CAD）機能を使用して、さまざまなサイズと形状のコンポーネントに適応するカスタムテストダイアグラムを生成します。垂直テストベイと水平テストベイの両方を備えており、効率的なテストと高いスループットにより、より高い生産率を実現します。精度向上のための高解像度CCDカメラと、非常に正確なプロービングを可能にする強力なプローブモータを搭載しています。J 750 Eはまた、最大の柔軟性と高精度のテスト測定のための適応テストアルゴリズム技術を備えた強力なDSPベースの制御ツールを備えています。テストアセットには、セキュアなリモートアクセスと監視のためのさまざまな接続オプションが装備されています。このモデルは、ピンステートテスター、ネットワークアナライザ、ロジックアナライザなど、さまざまなテストセットとのインタフェースも可能です。また、TERADYNE J 750 Eは、自動診断レポートをサポートする高度な診断機能とトレーサビリティ機能、トレーサビリティと診断トラッキングのための統合されたデータ記録機能も提供します。この機器には、プログラミングおよびテストプロトコルの高い柔軟性のための最新バージョンの動的プログラミングパッケージも含まれています。これにより、新しいデバイスと機能のシームレスな統合が可能になり、効率が向上します。このシステムは、航空宇宙、自動車、医療、産業製造など、さまざまな信頼性の高い産業で使用するために設計されています。J750Eは、高複雑度で信頼性の高いデバイスに一貫したテスト結果を提供します。堅牢な設計と統合された機能により、最終生産テストと品質保証に最適です。