中古 TERADYNE J750 E #9267898 を販売中

TERADYNE J750 Eの最終試験装置は、TERADYNEの先進的な半導体試験および熱試験ソリューションです。このシステムは、半導体デバイスをテストするための高精度で費用対効果の高い方法を提供するように設計されています。単位はテストプロセスの全面的な信頼性そして効率を改善するために設計されています。TERADYNE J750Eマシンは、ツールごとに最大128の使用可能なサイトで、さまざまなデバイスタイプを同時にテストする独自の機能を備えています。この機能により、スループットが向上し、個々のテストのコストが削減されます。さらに、このアセットにはテストハンドラとテストヘッドコンポーネントが統合されているため、モデルは全体的なテストプロセスでコストを削減できます。これらのすべての機能により、J 750 E機器は大量の製造アプリケーションに最適です。J750 Eシステムは、要求の厳しい熱試験にも適しています。このユニットは、厳密な温度および応力条件でさまざまなテストを実行することができます。内蔵された温度センサーは正確な読み取りを提供し、高度な温度制御アルゴリズムは読み取りの精度を維持します。これは、デバイスが厳しいテスト条件にさらされていることを確認するのに役立ちます。J750E機械はまたアナログ試験の広い範囲を扱うように設計されています。AC/DCパワーアナライザ、X-RAY、シグナルアナライザ、その他の特殊なテスターなど、複雑なテストを正確に実行できるラインテスターを備えています。このツールには、自動化されたデータ収集と分析を可能にする高度なソフトウェアツールも装備されています。アセットは、さまざまなアプリケーションにカスタマイズすることもでき、既存のシステムと統合することもできます。これにより、ラインテスト、表面実装テスト、バックプレーンテスト、機能テストなど、さまざまな環境でテストを実行できます。全体として、TERADYNE J 750 Eモデルは、幅広い半導体および熱試験のための高精度で費用対効果の高い試験機能を提供する高度なテストソリューションです。その統合されたテストヘッドコンポーネント、高度な温度制御機能、洗練されたソフトウェアツール、およびカスタマイズ可能なオプションはすべて、装置を大量の製造アプリケーションに理想的にします。