中古 TERADYNE J750 E #9265118 を販売中

TERADYNE J750 Eは、さまざまな回路や部品のテストに使用される最終試験装置です。自動車や家電から医療、その他のアプリケーションまで、さまざまな用途に適しており、高速で正確な試験を行うことができます。TERADYNE J750Eの高度な機能には、高いスループット容量が含まれており、テストピン数とボードあたりの部品数に応じて1時間あたり最大8500端子をテストすることができます。さらに、このシステムは様々なテストポイントを迅速に通過することができ、機能テスト、境界スキャンテスト、テストカバレッジレポートからDCパラメトリックスキャンまで、さまざまなテストに使用できます。このユニットには、インサーキット/機能障害解析機能、および高周波回路の特性評価機能も含まれています。J 750 Eには、マシンを直接プログラムおよび制御できる統合されたテストセルコントローラや、オプションの高速境界スキャンI/Oコントローラなど、いくつかのユニークな機能があります。さらに、直感的で使いやすいWindowsベースのソフトウェアツールが付属しています。アセットは柔軟性と信頼性があり、複数の試験治具構成をサポートすることも可能で、あらゆる種類の試験環境に適しています。さらに、インテリジェントテストプログラムの生成やテストプロセスを合理化するデバッグオプションなど、さまざまな自動化された機能が含まれているため、迅速かつ効率的です。全体として、J750Eは効率的で正確な最終試験モデルであり、幅広い用途に適しています。その高度な機能により、高速で正確なテストに使用でき、柔軟性と信頼性のためにあらゆるテスト環境で使用できます。