中古 TERADYNE J750 E #9031870 を販売中

TERADYNE J750 Eは、高速プリント基板（PCB）製造の生産試験に使用される次世代の高性能な最終試験装置です。このプラットフォームは、高速ウェーハソートシステム、ユニバーサルソケット/マルチDUT電気テストユニット、コンベア、ロボットアームの統合などの高度に自動化されたコンポーネントで構成され、より高いスループット、精度、より高い量、および改善された品質を可能にするために協力しています。高速ウェハソートマシンは、バーンイン、部品質量プロービング、PCB機能テストなど、さまざまな試験タイプのために設計されています。電圧、電流、電力、抵抗、多数のパラメータなど、各テストの幅広い測定を迅速に処理します。また、インデックス作成によるテストシーケンス、高度な故障診断、手動および自動デバイスプログラミングなど、強化されたソフトウェアパッケージも備えています。ユニバーサルソケット/マルチDUT電気テストツールは、最大60,000 DUT/hr、 24/7のスループットを提供します。数百個のテスターソケットでテストカバレッジを最大化し、ダウンタイムを最小限に抑えながらタイプを素早く切り替えることができます。このアセットアーキテクチャは、テストを迅速に実行し、新しくリリースされた製品と成熟した製品の両方を処理するように設計されています。自動化されたビジョンテストシステムと比較して、LEDやBGAパッケージなどのテストが困難な部品を含む、はるかに大きな部品を扱うことができます。このモデルには、リニアトランスファーモジュール、インデックスコンベア、自動カルーセルなど、多くの統合オプションが付属しています。これにより、TERADYNE J750Eは自動ライブラリローダーなどの機能にシームレスにリンクできます。さらに、ロボットの統合により、部品配置やeテストプロービングなどの複雑なテストが可能になります。柔軟性と拡張性のために、J 750 Eには包括的なソフトウェアスイートを備えた複数の処理PCがあります。これにより、複数のオペレータが生産ラインのさまざまな側面を同時に制御および監視することができます。また、OPCサーバ、SNMP、 IEEE 488。2のサポートなど、包括的な接続性を提供します。TERADYNE J 750 Eは、スループットと精度に優れた高速試験を提供するために設計された最終試験システムです。その幅広いコンポーネントと統合オプションにより、さまざまなテストとコンポーネントを使用することができます。さらに、モジュラーアーキテクチャにより、生産ニーズの変化に合わせて容易に拡張できます。J750 Eは、生産テストや検証のニーズに最適なソリューションです。