中古 TERADYNE IP 750E #9213048 を販売中

TERADYNE IP 750Eは、ICとして知られる集積回路の効率的な最終試験に使用される高性能な試験システムです。IP 750Eは、クラス最高の大量生産試験に適しており、SoC（システムオンチップ）、コンシューマIC、車載IC、プロセッサ、メモリコンポーネントなど、さまざまな製品をテストすることができます。TERADYNE IP 750Eは、ピンレベルの完全なアクセスを提供することにより、テストあたりのコストを大幅に削減します。ほとんどのICと、ディスクリート部品を含むすべてのタイプの統合コンポーネントをテストすることができます。この構成により、シングルピン・デバイスからハイピン・カウントまでのICテストの全範囲をカバーできます。IP 750Eは、可能な限り最高のスループットを提供するように設計されています。これは、ループ、複数パターン実行、Cリミットテスト、メモリ登録機能の向上などの高度な構造テストアルゴリズムを使用することによって達成されます。また、テストの最適化と合理化されたプログラミングのための適応可能なアルゴリズムをユーザーに提供します。TERADYNE IP 750Eは、テストの理解とジョブのセットアップを容易にするためのユーザーフレンドリーなグラフィカルプログラミングツールを提供しています。また、直感的なユーザーインターフェイスを備えているため、異常をすばやく特定して解決できます。さらに、内蔵の統計解析により、IP 750Eは信号要件の最も微妙な偏差を検出し、過渡異常を迅速に検出することができます。また、TERADYNE IP 750Eは、高度なフォルトアイソレーション機能により、診断機能を向上させます。絶縁されたノードトレーシング、電圧テストプロービング、バス解析、フォルト放出の特性評価を提供します。これらの機能により、フォルトカバレッジが強化され、反復テストやその他のマンパワーリソースの必要性が低減されます。全体として、IP 750Eは信頼性の高い最終試験システムであり、サイクル時間の短縮、スループットの向上、精度の向上を実現するために設計されています。これは、同じセットアップでテスターからテスターに簡単に移動するダイナミックなアーキテクチャを備えているため、大量の生産テストに最適です。