中古 TERADYNE IP 750 EX #9302522 を販売中

TERADYNE IP 750 EXは、高性能な最終試験装置です。これは、さまざまなコンポーネントおよびアセンブリ用途の混合信号試験要件のニーズを満たすように設計されています。TERADYNE IP750EXは、高速スキャンチャネルを備えており、ロジックおよびメモリコンポーネントの迅速なテストを可能にし、制御システムおよびDC/DCコンバータのテスト用の低速ドライバを備えています。そのアーキテクチャは、広帯域幅にわたって低ジッタと高ノイズ除去を提供するように設計されています。IP 750EXはアナログおよびデジタル部品の広い範囲をテストすることができます。シンプルなロジックチップから複雑な混合信号SoCまで、あらゆるタイプのICに対して低コストで高速なテストを提供するように設計されています。このシステムは、高度な状態マシンアーキテクチャを使用して、複数のデバイスを並列に効率的に高速テストできます。このユニットには強力なピンマルチプレクサも含まれており、UUTへの接続に非常に効率的で柔軟なインターフェイスを提供します。このマシンは多数のゲイン補正とオフセット補正をサポートしているため、高速アンプやフィルタなどのハイダイナミックレンジ部品のテストに適しています。さらに、データ解析や比較機能など、必要なすべての信号診断をサポートしています。このツールの強力な構造テストマクロは、小型および混合デバイスのアナログ特性の詳細な測定に最適です。TERADYNE IP750 EXは、高電流出力チャネルと広範囲の電圧ランプレートを備えた高電圧試験オプションにも対応しています。このアセットには電圧と電流の絶縁が内蔵されており、安全性を高めるために低電圧と高電圧の両方の安全絶縁で構成することができます。IP750EXは非常に構成可能なテストモデルで、柔軟なピンカウントと幅広いプラットフォームオプションを備えています。既存の生産ライン構成にすばやく統合できるように設計されており、さまざまなPCベースのアプリケーションやテストベンチを介して制御することができます。この機器には組み込みWebサーバーが含まれており、タブレット、ラップトップ、またはデスクトップコンピュータからのリモート制御と監視が可能です。要約すると、IP 750 EXは、幅広いコンポーネントおよびアセンブリアプリケーションのための混合信号試験要件のニーズを満たすように設計された高性能の最終試験システムです。制御システムおよびDC/DCコンバータのテスト用の低速ドライバとともに、ロジックおよびメモリコンポーネントの高速テストを提供します。また、強力なピンマルチプレクサを備えており、多数のゲインとオフセット補正をサポートしています。ユニットは高度に構成可能であり、既存の生産ライン構成に統合することができます。