中古 TERADYNE iFlex #9234393 を販売中
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ID: 9234393
ヴィンテージ: 2017
Tester
(5) HSD200
200 Mhz
16MLVM
DC-30
DC-75
Computer: XW8400
2017 vintage.
TERADYNE iFlexは、製造メーカーがテストカバレッジを最大化し、大量のワイヤ限定製品のテスト時間を最小限に抑えるために設計された、包括的な最終試験装置です。このシステムは、自動光学検査(AOI)、ボードレベルおよびユニットレベルのテスト、アプリケーションプログラミングなど、幅広いニーズに対応するように設計されています。TERADYNE I-FLEXマシンはDMSアーキテクチャに基づいており、1つのコンパクトでスケーラブルなツール内に複数のテストおよびプログラム可能なインターフェイスを統合できます。アセットは、お客様の特定のテストのニーズに必要なすべてのプラットフォーム、フォーマット、または技術に対応するためにオープンです。iFlexモデルの中心にはI-FLEX Equipment Controllerがあり、信頼性の高いテストおよびプログラミングソリューションで最高のパフォーマンスを提供するように設計されています。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)を備え、プログラム埋め込みや高度なプログラミング方法などの機能をサポートします。このシステムには、高性能プログラマブルロジックコントローラ(PLC)とテストリソースコントローラ(TRC)も含まれており、制御が強化されています。TERADYNE iFlexは構成可能なユニット構成もサポートしているため、お客様はテスト要件に合わせてさまざまなコンポーネントを素早く簡単に追加、削除、スワップすることができます。光学検査のニーズには、TERADYNE I-FLEXマシンには、Nexus AOIプラットフォームとiFlex治具モジュールが含まれています。Nexus AOIは、高度なパターン認識と欠陥分類機能を備えた高速インサーキット、レーザープリント、X線、およびデジタル視覚検査のユニークな組み合わせを提供します。I-FLEX治具モジュールは、非常に正確な自動光検査を可能にするように設計されています。さらに、TERADYNE iFlexツールは、必要に応じて手動の光学検査をサポートします。TERADYNE I-FLEXアセットは、ボードレベルおよびモデルレベルのテスト機能を提供します。この機器は、RF、 FPGA、 デジタルI/O、 JTAG、 USBなど、さまざまなテスターおよび通信ネットワークを管理および制御できます。付属の配電システムはACとDCの両方をサポートし、複数のテスト要件を同時に実行できます。さらに、このシステムには、タイムドメイン測定、高電圧、およびデジタルテストアプリケーションが可能なTMX8200、プログラム可能なテストおよび測定ユニットが含まれています。このマシンは、自動テストカバレッジと柔軟性を追加します。IFlexツールは、テスト開発、データ取得、運用、分析などのアプリケーションに拡張可能なプラットフォームを提供します。アセットには、さまざまなデバッグおよび監視タスクをサポートするように設計された、高度なロジック計測および分析ツールのスイートが含まれています。要約すると、I-FLEXは包括的な最終テストモデルであり、テストカバレッジを最適化し、全体的なテスト時間を最小限に抑えるように設計されています。この機器は、お客様の特定のテストのニーズに必要なすべてのプラットフォーム、フォーマット、または技術に対応するために非常に柔軟でオープンです。このシステムには、自動光検査、ボードレベルおよびユニットレベルのテスト、ならびにプログラマブルロジックコントローラ(PLC)およびテストリソースコントローラ(TRC)用のコンポーネントが含まれています。さらに、TERADYNE iFlexは、アプリケーションおよび高度な機能テストおよび分析機能の拡張可能なサポートを提供します。
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