中古 TERADYNE iFlex #9229667 を販売中

TERADYNE iFlex
製造業者
TERADYNE
モデル
iFlex
ID: 9229667
ヴィンテージ: 2007
Tester Includes: (5) HSD200 200 MHz 16 MLVM DC-30 DC-75 Computer: XW8400 2007 vintage.
TERADYNE iFlexは、さまざまなアプリケーションや市場で複雑なコンポーネントをテストおよび検証するために設計された高度な最終試験装置です。プロセッサ、メモリ、電源、高速オプトエレクトロニクスデバイスなどの半導体デバイスのテストおよび検証に使用されます。TERADYNE I-FLEXシステムは、1ギガヘルツまでの速度でテストできる最新の高速試験および検証技術を使用しています。それは6つの高速計装チャネルが装備されています、これは、コンポーネントの広大な範囲の正確なテストと検証を可能にします。このユニットの主な利点は、その能力とプラットフォームに柔軟性が高いことです。これにより、さまざまなサプライヤーのさまざまなコンポーネントのテストと検証に最適です。このマシンには、広範な測定、特性評価、検証ソフトウェアが付属しているため、コンポーネントの特性評価やパラメトリックテストなどのアプリケーションでの使用に最適です。また、TERADYNE Interconnect Test Tool (ITS)やLabVIEWソフトウェアをグラフィカル制御に使用するなど、他のテストシステムと容易に統合できるように設計されています。このソフトウェアを使用すると、コンポーネントの欠陥をすばやく特定して理解することができ、強化された是正措置の開発と実装に役立ちます。また、製品の迅速な測定と特性評価を可能にし、お客様の要求を満たすことができます。最後に、iFlexアセットには、効率と速度を向上させるための自動操作機能が装備されています。この機能により、ユーザーはリアルタイムでデータにすばやくアクセスでき、正確で信頼性の高いテスト結果を迅速に生成することができます。さらに、このモデルには高度なテスト呼び出し装置も搭載されており、さまざまなテストを組織的に呼び出すプロセスを簡素化するのに役立ちます。全体として、I-FLEXは複雑なコンポーネントをテストおよび検証するために設計された高度で汎用性の高い最終試験システムです。柔軟な機能と高速試験技術により、コンポーネントの特性評価やパラメトリックテストなどのアプリケーションに最適です。また、測定、特性評価、検証ソフトウェアの広い範囲と、試験結果の速度と精度を大幅に向上させる自動化された操作機能を備えています。
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