中古 TERADYNE iFlex #9228348 を販売中

TERADYNE iFlexは、多くのタイプの半導体デバイスの費用対効果の高いテストに最大限の柔軟性とスループットを提供するように設計された、高性能でモジュール式の最終試験装置です。拡張可能なプラットフォーム上に構築されたTERADYNE I-FLEXは、小規模ボードレベルのテストから複雑なシステムレベルのテストまで、アプリケーションの正確なニーズに応じてカスタマイズできます。このユニットは、モジュラー計装とさまざまなテストヘッド構成を備えたシングルラックまたはデュアルラックの独立したテストプラットフォームを利用しています。これにより、より高いスループットを実現するための並列性とスケーラビリティが向上します。マシンの究極のアーキテクチャは、アプリケーションのテスト要件によって決定されます。このツールは強力な診断および分析スイートを備えており、エンジニアが困難なデバッグケースのトラブルシューティングとパフォーマンスの最適化を支援します。これには、リアルタイムグラフィックス、柔軟なデータロギング、署名解析、フォルトアイソレーションなどの統合診断が含まれます。このアセットは、リアルタイムの欠陥解析および欠陥グレーディング機能もサポートします。IFlexモデルは、高度な自動化機能も備えています。これには、機器レベルのテストと、自動テストシーケンスとパラメーターのセットアップを可能にするハードウェア抽象化レイヤーが含まれます。これにより、面倒な反応と調整のプログラミングを排除し、テストプロセスの効率を最大限に高めることができます。I-FLEXは、迅速な納期と完全なシステムテストカバレッジを必要とするラボ、製造、品質保証環境に最適なツールです。また、マイクロプロセッサ、FPGA、 ASIC、メモリ、およびデジタルロジックをテストするための包括的なツールを備えています。これは、試験結果の正確性と信頼性を確保するのに役立ちます。TERADYNE iFlexの中心にあるのは、機械の迅速なスケーリングを可能にする独自の自動試験装置（ATE）アーキテクチャです。これにより、多数のデバイスを迅速かつ効率的にテストすることができます。このツールはまた、高いスループットと強力な診断資産を備えており、市場投入までの時間を短縮するのに役立ちます。TERADYNE I-FLEXは、最も複雑な半導体デバイスのテストを迅速かつ信頼性の高いものにするための確実な方法です。モデルの拡張性と強力な診断ツールのスイートにより、幅広いテストアプリケーションに最適です。信頼できるパフォーマンスと高度なオートメーション機能を備えたiFlexは、あらゆる半導体デバイスのテスト環境に最適なツールです。