中古 TERADYNE iFlex #9212692 を販売中

TERADYNE iFlexは、生産中に高ピン数の電子機器を効率的にテストするために設計された高度なデジタル機能試験装置です。このシステムは、非常に柔軟性が高く、最も厳しい業界標準に準拠したスケーラブルなプラットフォームで、高品質のテストカバレッジを提供します。TERADYNE I-FLEXプラットフォームは、シンプルなアナログデバイスから最先端の複雑なマルチレイヤボードまで、個々のデバイスをテストするための非常に幅広い機能を提供します。このユニットは、デバイスのテストに最適ないくつかの組み込み機能と機能を利用しています。1つ目は、マシンのピンカウントの拡張性であり、異なるピンカウントを持つ可能性のある幅広いデバイスのテストを可能にします。さらに、このツールは、テスト中のデバイスのパラメータに合わせてテスター設定を自動的に切り替えることができます。この機能は、さまざまなデバイスを迅速にテストする必要があるユーザーにとって、テスト時間の短縮に特に役立ちます。アセットは、テスターのセットアップとルーティングを簡素化するために、高度なテストアーキテクチャモデル（TAM）を使用します。TAMアーキテクチャを使用すると、ユーザーはデバイスの種類に応じてテスター設定とルーティングを構成できます。この機能は、モデルのスループットを最大化するのに役立ちます。さらに、TAMアーキテクチャには、潜在的な設計上の問題を特定し、デバイスがお客様の仕様を満たしていることを保証するために使用できるフォルトモデリングおよびテスト分析機能も含まれています。さらに、この機器は、業界標準のすべてのテストパッケージおよびプロトコルに完全に準拠しています。これは、追加のハードウェアを必要とせずに、幅広いデジタルおよびアナログテストのニーズに対応できることを意味します。このシステムは、デジタルデバイスで使用されるすべての主要なプロトコルと技術をサポートするために構築されています。また、高速データ解析機能も備えています。パラレルクロッキングとマルチスレッディングを使用することで、高い生産速度を実現し、試験結果を正確に報告することができます。これにより、特に多数のデバイスを扱う場合に、デバイスのテストに最適なソリューションとなります。全体的に、iFlexツールは、さまざまな高ピン数デバイス向けの汎用性と強力なテストソリューションです。高度な機能、スケーラビリティ、プロトコルコンプライアンスを備えたこのアセットは、最終的なテストのニーズに適しています。その速度と精度により、最も要求の厳しい環境での生産に最適です。