中古 TERADYNE iFlex #9145488 を販売中
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ID: 9145488
Tester
Work station:
Model: HP xw8400
System O/S: Windows XP SP2 2002
IGXL Version: V5.10.30_flx
CPU: Xeon® CPU
CPU CLK: 2.33GHz
Main memory: 2GB
LVM Size: 64 M
CLK Speed: 200MHZ
TH:
HSD:
(48) Digital channels
Linear vector memory (LVM): 64 MB
Fail map memory (FMM)
Subroutine vector memory (SVM): 1 kB
DC30:
V/I Channels: 20
Current range: 200 mA
DC75:
V/I Channels: 4 (multiplexed)
Current range: 0 mA to 2A
BBAC:
(2) Source channels
(2) Digitizer channels
Frequency range: DC to 15 MHz
VHFAC:
(2) Digitized waveform capture
Time measurement unit (TMU)
Support board:
Reference clock
DC Calibration
TH:
HSD: Slot Quantity Ch
2 4EA 192
3
4
5
DC75: 8 1EA
VHFAC: 13 2EA
26
Support board: 7 2EA
20.
TERADYNE iFlexは、現在および将来のテストのニーズに対応できるモジュラーアーキテクチャを備えた汎用性と拡張性に優れた最終試験装置です。柔軟性と拡張性を念頭に置いて構築された次世代のmemtest技術により、さまざまな高度な集積回路を迅速かつ正確にテストできます。モジュール化されたアーキテクチャにより、テストプロセス全体をカスタマイズおよび構成してさまざまなテストプロトコルを満たすことができ、効率的な生産プロセスフローのために既存の自動テストシステムに統合することができます。TERADYNE I-FLEXは包括的なウェハレベルテストソリューションを備えており、単一のテストで最も困難な異機種混在デバイスを効率的にテストできます。特許取得済みのmemtestアーキテクチャと高速スキャン時間、低消費電力、および強化された信号キャプチャにより、最小の障害でも正確に検出できます。テストユニットは、自動ウェハ検査用の高速視野検査機を搭載して構成することもできます。このツールは、内蔵の多言語インターフェース、環境モニタリング、JTAGプログラミング、デバイスプログラマビリティ、柔軟なテストスケジューリングなど、大量の生産テスト環境を容易にするために設計された強力な機能を備えています。統合された制御および分析ソフトウェアは、完全なデバイスレベルのテスト制御および分析機能を提供し、アセットをプロセスと品質管理の両方に使用することができます。ロボットは素早く簡単に再構成できるように設計されているため、手作業によるメンテナンスが不要です。スマートな工具細工の技術はまた装置が異なった装置およびパッケージのタイプに合わせることを可能にし、手動介入なしで速い再構成を可能にします。IFlexは、デバイスおよびパッケージタイプの頻繁かつ継続的な変更に対応する大量生産プロセスを迅速に作成できるように設計されています。このシステムは、集積回路、BGA、フリップチップ、チップオンボードなど、さまざまな製品のテストに最適です。また、複雑なシステムオンチップのウェハレベル試験にも使用できます。このユニットは、高度な次世代製品のテストのニーズに最適です。
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