中古 TERADYNE DC75 for iFlex #293639994 を販売中

TERADYNE DC75 for iFlexは、フレックス回路アプリケーション向けの包括的で高効率なデータテストソリューションを提供するために設計された画期的な最終試験装置です。このDC75は、マルチステージスマートシーケンシングと高速抵抗試験を強力なシングルバスプラットフォームに統合した最初のシステムです。このユニットには、信頼性の高い高速プロセッサが搭載されており、1時間あたり最大250万チップのテストを可能にし、最も包括的なテスト機能を提供します。このDC75は、PCBやフレックスコネクタなど、さまざまなフレックス回路のテストに最適です。その汎用性の高いテストアーキテクチャにより、現在の漏れやオープン/ショートテスト、単層および多層PGAおよびPCAデバイスでの複雑なマシンレベルテストなど、幅広いテストパラメータが可能になります。このツールは拡張性が高く、お客様は特定のテストのニーズに応じてテストチャネルの数を設定することができます。DC75の独自のマルチステージスマートシーケンシング技術は、ユーザーに前例のないプログラマビリティと柔軟性を提供し、最終的なテストプロセスを簡素化します。この技術は、アセットの高速耐性試験機能と密接に統合されているため、煩雑なツールや外部校正が不要です。DC75はまた、ポイント&クリック操作を備えた直感的なユーザーインターフェイスを備えており、ユーザーはテストプログラムに素早く簡単にアクセスし、テストニーズにリアルタイムで調整することができます。DC75 for iFlexは、プロセスの歩留まりと信頼性を向上させ、テストコストを削減し、組織の生産性を維持するように設計されています。高速処理機能により、多種多様なフレックス回路を迅速かつ効率的にテストしながら、高い精度と再現性を実現します。また、人間工学に基づいた設計と、事故からユーザーを保護するための安全インターロック装置を備えた、安全性と利便性を念頭に置いて設計されています。TERADYNE DC75 for iFlexは、今日のフレックス回路メーカーのニーズを満たすように設計された高度な最終試験システムです。高効率で正確な試験プロセスと柔軟性と拡張性を兼ね備えており、幅広いフレックス回路試験要件を満たしています。DC75 for iFlexは、最終的なテストサイクル時間を短縮し、プロセスの歩留まりを改善しようとする組織にとって理想的なソリューションです。