中古 TERADYNE Catalyst #9205872 を販売中

TERADYNE Catalystは、エレクトロニクス製造およびテスト環境で使用される最終試験装置です。製造不良、組立不良、部品故障の部品や基板を迅速かつ正確に評価できるように設計されています。このシステムは、さまざまなテストタイプに使用できるさまざまな特殊なテストモジュールで構成されています。境界スキャン、JTAG、 ICT、インサーキット、機能テストが可能です。Catalystユニットはカスタマイズ可能なモジュラーアーキテクチャを使用しており、ユーザーはニーズに合わせて設定することができます。SoC、 SIP、 BGA、 QFPデバイスなど、さまざまな基板やコンポーネントのテストに使用できます。このマシンには、境界スキャンテストモジュール、統合テストモジュール、機能テストモジュールなど、いくつかのテストモジュールが含まれています。境界スキャンテストモジュールを使用して、ピンパターンの競合、ショート、開き、および弱いピンを検出できます。統合テストモジュールはデジタルおよびアナログテストに使用され、機能テストモジュールはツールレベルのテストに使用されます。TERADYNE Catalystアセットには、高速プログラマブルプロセッサも搭載されており、他のテストシステムと比較して最大6倍の高速で高度なテストを実行できます。さらに、セルフテスト機能を備えており、テスト中に発生したエラーを自動的に診断してトラブルシューティングすることができます。また、複数の基板を同時に試験できるため、試験スループットと効率が向上します。Catalystシステムは、高度なテストアプリケーションを設計および制御する柔軟性をユーザーに提供する構成可能なソフトウェアツールの範囲で構築されています。これらのソフトウェアツールを使用すると、ユーザーはカスタムテストプログラムを構築し、ユニット設定を調整し、マシンのパフォーマンスを監視することができます。ソフトウェアツールは仮想マシン技術もサポートしているため、複数のテストプログラムを同時に実行できます。また、高度なデータ分析機能を使用して、テスト結果の詳細な分析とレポートを提供します。これにより、ユーザーは問題領域をすばやく特定し、障害の原因を特定し、迅速に是正措置を講じることができます。さらに、アセットレポートは、パス/フェイルステータスなどの要約情報をテストし、デバッグおよびトレース機能も提供します。全体として、TERADYNE Catalystは強力で汎用性の高いテストモデルであり、幅広い電子部品や基板をテストすることができます。正確なテスト結果を迅速なサイクルタイムで提供するため、ユーザーはテストコストを削減し、製品品質を向上させることができます。包括的なソフトウェアツールと高度なデータ分析機能により、小規模および大規模な電子機器製造およびテスト環境に最適です。