中古 TERADYNE Catalyst #9082358 を販売中
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販売された
ID: 9082358
Test Systems
Tester Cabinet
Power Conditioner
Test Head
Prober not included
Configuration:
#
# Confsim file created on: 01/03/02 09:15:40
#
# Catalyst tester cat9
#
# cat9 is a 1 processor system
# Processor 1: 440 MHz sparc (online)
# PCI based system
# Terabus is present
# Board ID 949-824-00
# Serial number 0276d91
# TCI is present
#
CATALYST_TH 1
BACKPLANE A
#Slot Type Serial # Num XptA XptB Name
2 000-000-00 0x0000000 0 # 23 24 EMPTY
3 000-000-00 0x0000000 0 # 21 22 EMPTY
4 949-658-00 0x80206ad 0 # 19 20 LFAC DUAL CC
5 879-792-01 0x01b9d66 0 # 17 18 TIME CC
6 879-857-01 0x021a0b2 0 # 15 16 PMM CC-01
7 000-000-00 0x0000000 0 # 13 14 EMPTY
8 949-658-00 0x8020638 0 # 11 12 LFAC DUAL CC
9 000-000-00 0x0000000 0 # 9 10 EMPTY
10 949-681-50 0x024a7db 0 # 7 8 VHFAWG400 DIFF CC
11 949-672-50 0x0253ed0 0 # 5 6 VHFDIG CC
14 879-678-52 0x024afca 0 # 25 26 LCA CC
15 000-000-00 0x0000000 0 # 27 28 EMPTY
16 000-000-00 0x0000000 0 # 29 30 EMPTY
17 949-658-00 0x8020636 0 # 31 32 LFAC DUAL CC
18 949-643-00 0x026da57 0 # 33 34 TJD CC
19 000-000-00 0x0000000 0 # 35 36 EMPTY
20 000-000-00 0x0000000 0 # 37 38 EMPTY
21 949-658-00 0x01fc29c 0 # 39 40 LFAC DUAL CC
22 000-000-00 0x0000000 0 # 41 42 EMPTY
23 000-000-00 0x0000000 0 # 43 44 EMPTY
1 949-669-00 0x0269f4e 0 # 3 0 HAS (Left HAS LA669-00)
13 949-668-00 0x0269d27 0 # 0 0 CATALYST HAC
12 949-667-00 0x026a11d 0 # 0 0 DIF
24 949-669-01 0x0269ece 0 # 4 0 HAS (Right HAS LA669-01)
END
RF_PIPES 1
# pipe-name slot schan description
END
#
# Up to 4 Precision AC Card Cages are allowed
#
PRECISION_AC 1
#Slot Type Serial # Num Name
1 949-660-01 0x80251b4 0 # LFACDIG
2 949-659-00 0x8021e87 0 # LFACSRC
3 949-660-01 0x80251f0 0 # LFACDIG
4 949-659-00 0x8023139 0 # LFACSRC
5 949-664-00 0x80120f3 0 # VHFDIG MF
6 949-827-00 0x11d764a 0 # VHFAWG
7 000-000-00 0x0000000 0 # EMPTY
8 949-671-00 0x802120b 0 # PACS CAGE INT
END
PRECISION_AC 2
#Slot Type Serial # Num Name
1 949-660-01 0x8021b1e 0 # LFACDIG
2 949-659-00 0x0253ea2 0 # LFACSRC
3 949-660-01 0x8021b24 0 # LFACDIG
4 949-659-00 0x0254c01 0 # LFACSRC
5 000-000-00 0x0000000 0 # EMPTY
6 000-000-00 0x0000000 0 # EMPTY
7 000-000-00 0x0000000 0 # EMPTY
8 949-671-00 0x802122a 0 # PACS CAGE INT
END
#
# Up to 8 Universal Backplane/Synch Power Subsystem
# cages are allowed
#
# For the Synch Power Subsystem:
# Slot Type Name Instr1 # Instr2 # Ammeter #
#
# Instr1 # - insrument connected to the first two matrix lines
# Instr2 # - insrument connected to the last two matrix lines
# Ammeter # - ammeter connection
# to AVOID errors, put NO 0 if no instrument is connected.
#
#
UB_SPS_CAGE 1
# Slot Type Serial # Num Name
1 879-802-02 0x027c384 0 # UB_SPS_802
2 517-301-00 0x0259f44 0 # UB_APU
3 517-301-00 0x0214dfc 0 # UB_APU
4 517-301-00 0x0259996 0 # UB_APU
5 517-301-00 0x025ce89 0 # UB_APU
6 517-301-00 0x025721b 0 # UB_APU
7 517-301-00 0x027024e 0 # UB_APU
8 517-301-00 0x0257203 0 # UB_APU
9 517-301-00 0x0270237 0 # UB_APU
10 517-301-00 0x027024f 0 # UB_APU
11 517-301-00 0x0256a39 0 # UB_APU
12 517-301-00 0x0256d31 0 # UB_APU
13 517-301-00 0x025720c 0 # UB_APU
14 879-925-01 0x026a03c 0 # UB_60_V_SRC MAT 1
15 879-925-01 0x026c414 0 # UB_60_V_SRC MAT 2
16 879-925-01 0x02484e1 0 # UB_60_V_SRC MAT 3
17 879-925-01 0x0249e11 0 # UB_60_V_SRC MAT 5
18 879-925-01 0x01f0cab 0 # UB_60_V_SRC DUT 1
19 879-925-01 0x024868c 0 # UB_60_V_SRC DUT 2
20 879-925-01 0x026a039 0 # UB_60_V_SRC DUT 3
21 879-690-00 0x02518e8 0 # UB_ASY
22 517-300-01 0x024620f 0 # UB_TJ300
END
HSD100_CHAN_CAGE 1
#Slot Type Serial # Num Fld1 Fld2 Name
1 949-921-50 0x8017a18 0 # HSD CDM 400
2 949-921-50 0x801487e 0 # HSD CDM 400
3 949-921-50 0x80148cb 0 # HSD CDM 400
4 949-921-50 0x8016cf2 0 # HSD CDM 400
5 949-820-10 0x11d8a68 0 # HSD CSB
6 949-921-50 0x80147aa 0 # HSD CDM 400
7 949-921-50 0x8016322 0 # HSD CDM 400
8 949-921-50 0x8014d85 0 # HSD CDM 400
9 949-921-50 0x8016b8a 0 # HSD CDM 400
END
HSD100_CHAN_CAGE 2
#Slot Type Serial # Num Fld1 Fld2 Name
1 949-921-50 0x801421d 0 # HSD CDM 400
2 949-921-50 0x8014e36 0 # HSD CDM 400
3 949-921-50 0x8016c69 0 # HSD CDM 400
4 949-921-50 0x8016cec 0 # HSD CDM 400
5 949-820-00 0x11d7322 0 # HSD CSB
END
CATALYST_TH 1
BACKPLANE B
#Slot Type Serial # Num Name
29 949-626-10 0x801471d 0 # HSD THS
43 949-625-00 0x80201d3 0 # HSD DTH
44 949-625-00 0x80202ed 0 # HSD DTH
45 949-625-00 0x8020264 0 # HSD DTH
46 949-625-00 0x8020229 0 # HSD DTH
47 949-626-10 0x8015548 0 # HSD THS
48 949-625-00 0x8011099 0 # HSD DTH
49 949-625-00 0x801774c 0 # HSD DTH
50 949-625-00 0x802113d 0 # HSD DTH
51 949-625-00 0x80210e5 0 # HSD DTH
61 949-625-00 0x80210bc 0 # HSD DTH
62 949-625-00 0x8020ae6 0 # HSD DTH
63 949-625-00 0x8016f2d 0 # HSD DTH
64 949-625-00 0x80176a5 0 # HSD DTH
65 949-626-00 0x8015cac 0 # HSD THS
66 949-625-00 0x8014a10 0 # HSD DTH
67 949-625-00 0x8016077 0 # HSD DTH
68 949-625-00 0x80160c9 0 # HSD DTH
69 949-625-00 0x802109c 0 # HSD DTH
70 949-625-00 0x80172dd 0 # HSD DTH
71 949-625-00 0x8015140 0 # HSD DTH
72 949-625-00 0x8015f86 0 # HSD DTH
73 949-625-00 0x802021b 0 # HSD DTH
74 949-626-10 0x8012fac 0 # HSD THS
75 949-625-00 0x80210d3 0 # HSD DTH
76 949-625-00 0x8017817 0 # HSD DTH
77 949-625-00 0x80177d6 0 # HSD DTH
78 949-625-00 0x801778e 0 # HSD DTH
END
#
# Trigger Switch Yard
#
# Note: The logical slot numbers below correspond to the physical slot
# numbers only for test systems which contain a TSY card
# cage. In test systems which contain an SCS/TSY card cage the
# mapping is:
#
# Logical TSY slot (below) Physical slot
# 1 -> 2
# 3 -> 1
#
TSY CAGE
#Slot Type Serial # Num Name
1 879-655-02 0x0251831 0 # TSY
2 000-000-00 0xfffffff 0 # EMPTY
3 000-000-00 0xfffffff 0 # EMPTY
4 000-000-00 0xfffffff 0 # EMPTY
END
#
# Time Subsystem
#
TIME_SUBSYSTEM
# Board ID Serial # Name
879-793-00 0x0228EEF # TMS Timer
879-794-01 0x02519F7 # TMS Counter
879-795-01 0x0274CB3 # TMS Support
949-782-00 0x02650AE # Time Mux Board
END
#
# DC Subsystem -
#
# SRC <NUM> [1 - 13]
# (sources 1-5 are MATRIX sources 1-5
# sources 6-13 are DUT sources 1-8)
# HCU <NUM> *[1 - 4]
# REF HCU <NUM> *[1 - 4]
# HVSRC <NUM> *[1 - 4]
# PWRSRC <NUM> [1 - 4]
# DATABITS <NUM> - <NUM> [1 - 192]
#
# ** These instruments share the same seven-slot cage -- only one
# instrument is allowed per slot.
#
DC_SUBSYSTEM
# UBVI 60 1 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 14)
# UBVI 60 2 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 15)
# UBVI 60 3 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 16)
HCU 4
# UBVI 60 5 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 17)
# UBVI 60 6 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 18)
# UBVI 60 7 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 19)
# UBVI 60 8 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 20)
SRC 9
DATABITS 1 - 48
# UB_MATRIX
#
# Testhead 1
# XPTs UB Cage Slot Type
# 1-4 1 2 APU
# 5-8 1 3 APU
# 9-12 1 4 APU
# 13-16 1 5 APU
# 17-20 1 6 APU
# 21-24 1 7 APU
# 25-28 1 8 APU
# 29-32 1 9 APU
# 33-36 1 10 APU
# 37-40 1 11 APU
# 41-44 1 12 APU
# 45-48 1 13 APU
END.
TERADYNE Catalystは、今日市場で入手可能な最も強力で信頼性の高い最終試験システムの1つです。複雑なテストシーケンスを正確、迅速、正確に実行するように設計されています。半導体業界では、IC（集積回路）などの電子部品の試験・検証に広く採用されています。この装置は、高度なエミュレーションプラットフォーム技術に基づいており、システムは高速で複数のデバイスを同時に正確にテストすることができます。Multicore Sequencing、 Data Sheet Characterization and Automation （SIM/STT）などの強力なマルチコア処理能力と高度なソフトウェアソリューションを使用して、テストとプロセスフローを完全に自動化します。Catalystは、IOモジュール、プロセッサ、データ収集、電源などの複数のモジュールで構成される単一のプラットフォームユニットです。高度な半導体デバイスのテストを容易にするために、境界スキャン、JTAG、 I2Cなどのさまざまなテストインターフェイスを備えています。Test Windows、 Test Parameter Auto-Tuning、 Test Sequences Tuning、 Test Data and Real Time Monitoring、 Test Filtration、 Programmable Power Suppliesなどの高度な機能が組み込まれており、自動環境で既存のソリューションと簡単に統合できます。TERADYNE Catalystは、ATDIと呼ばれる自動テスト診断機能を備えており、欠陥部品を検出するのに役立ちます。また、PCBで障害シナリオを追跡および分析するためのIn-Circuit Diagnostics （ICD）もあります。このマシンには、さまざまなコンポーネントをさらに分析するためのさまざまな故障解析ステーション（FAS）や、最適化されたテスト計画を可能にするScanPilotProなどの高度なソフトウェアソリューションも含まれています。Catalystは非常に効率的で高速で、1秒あたり最大7500台のデバイスをテストでき、その近代的な設計により、低所有コストと信頼性が向上します。また、広範なテストシーケンスのライブラリや、DigitalやPower Dynamicsなどの幅広いテストソリューション、Ease Compliance CheckerやSignal Integrity Analyzerなどの高度なソフトウェアソリューションも含まれています。TERADYNE Catalystは、卓越した信頼性、低い運用コスト、優れた性能を提供するため、あらゆる半導体テスト要件に最適なソリューションです。これは、あらゆるコンポーネントのテストと検証に最適なソリューションであり、最終結果の最高品質と信頼性を確保するのに役立ちます。
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