中古 TERADYNE Catalyst LC 55 #293589462 を販売中

TERADYNE Catalyst LC 55装置は、製造プロセスの効率と速度を向上させるために設計された高度に洗練された自動最終試験システムです。様々な集積回路、ディスクリート部品、その他の半導体デバイスを正確にテストするための超高速、多機能ユニットです。この機械に4つの5インチの広域精密コンベヤーおよび限られた足跡の条件のための小さい形態の要因があります。Catalyst LC 55ツールは、高速で高精度なビジョンアセットを備えており、コンポーネントの特定と検査を最小限に抑えます。モデルの主な部分は、部品の有無を迅速かつ正確に検出し、正確な寸法を測定できる光学検査ステーションです。半導体デバイスの精密なプロービングのために、TERADYNE Catalyst LC 55装置は高速電気試験システムを備えています。このユニットは、広範囲のテストプローブと互換性があり、大きなメモリ容量を備えているため、巨大なテストプログラムを迅速かつ正確に処理できます。電気試験機は、広域コンベア全体のコンポーネントを見つけて追跡し、即座にテストするように設計されています。このツールには、高度な分析とドキュメント、自動トレイとスロット、自動フィーダとローダー、データ接続などの多くの追加機能が装備されています。Catalyst LC 55アセットは、オートメーションとデータ精度を向上させるためのマルチサイトデータ収集も提供します。統合ソフトウェアにより、ユーザーはさまざまなテストシナリオを作成および管理できます。ソフトウェアはまた、データがどのように収集されるかを制御し、それを安全かつ安全にします。さらに、このモデルは最新の業界標準に準拠しており、リモート接続、高度なレポートツール、自動パラメーター設定などのオプション機能を備えています。すべてにおいて、TERADYNE Catalyst LC 55装置は、あらゆるタイプの半導体デバイスに対して効率的かつ正確な試験を行うための優れた機能と利点を提供します。あらゆる製造プロセスの生産性とスループットを向上させるための理想的なソリューションです。