中古 TERADYNE Catalyst BB #9298931 を販売中

TERADYNE Catalyst BB試験装置は、半導体の最終試験用途向けに設計された最先端のプラットフォームです。このプラットフォームは、生産コストを削減し、稼働時間を最大化しながら、スループットと歩留まりを向上させる機能で構成されています。テストシステムにはアジャイルユニットコントローラが含まれており、並列テスト操作のための統合されたスケーラブルなアーキテクチャを提供します。複数の機能プラットフォームをシームレスにサポートし、最大のスループットと柔軟性を実現します。このマシンを使用すると、新しいテストをすばやく作成し、既存のテストフローに簡単に組み込むことができます。このツールの高速ダイレクトメモリアクセス（DMA）は、複数のメモリ場所に同時にアクセスする機能を提供します。これにより、ビジー・ループを排除し、効率的なテスト・スケジューリングを可能にし、より高いスループットを実現します。スループットをさらに向上させるために、マルチサイトテスト機能により、特定のアセット内の複数のテストサイトでの同時テストが可能になります。これにより、並列テスト操作とスループットの向上が可能になります。モデルコントローラのサポートは、従来のメモリとFPGAファブリックの機能を組み合わせた階層メモリ構造です。これは、高いメモリ要件に対応し、さまざまなテストアルゴリズムを組み込むことができる、信頼性と拡張性の高いアーキテクチャを提供します。また、Catalyst BB試験装置は高度な試験並列化機能を備えており、スループットの向上と試験時間の短縮を実現します。これにより、1つのシステム内で複数の異なるテストを同時に実行できます。また、このプラットフォームはATEの生産性に最適化されており、オンボードテスト接続を提供し、ケーブル接続の必要性を制限し、テスト時間の効率を向上させます。最後に、統合されたユニット診断機能により、非常に包括的なデバッグとトラブルシューティング機能が可能になります。これにより、ユーザーはエラーをすばやく特定して特定できるため、ダウンタイムを最小限に抑え、生産性を最大化できます。TERADYNE Catalyst BBテストマシンは、最終テストアプリケーション向けの信頼性の高い強力なプラットフォームです。高速ダイレクトメモリアクセス、並列化機能のテスト、効率的なメモリアーキテクチャ、統合されたツール診断、およびオンボードテスト接続はすべて、本番テストのスループットと信頼性を向上させる機能です。