中古 TERADYNE Catalyst 6TST-516 #9279119 を販売中

TERADYNE Catalyst 6TST-516は、さまざまな半導体デバイスの自動電気試験を行うように設計された最終試験装置です。このシステムは、テストのセットアップやプログラムに大きな柔軟性を提供し、ユーザーにデバイスの電気的欠陥を迅速かつ正確に検出する能力を提供します。また、高速テスト機能を備えているため、テスト時間が大幅に短縮され、生産のスループットが向上します。この6TST-516は、ダイナミックな設計アプローチを利用して、セットアップから迅速なテストに移行し、入庫要件を削減します。これは、5スロットのダイナミックカードケージを使用して行われ、最大5つのDUT（テスト対象デバイス）を処理できます。高速テスト機能により、1つのDUTデバイス内で同時にテストパラメータを測定することができ、1つのテストロケーション内でマルチサイトテストを可能にします。6TST-516の試験能力は、様々な試験技術の活用によってさらに強化されています。Pico SOC、 Pico PL、 JTAG、 Micro SOC、 MEMSテストなどがあります。また、OptionViewerソフトウェアは、さまざまなデバイスのテストのためのテスト設定と指示のインテリジェントなプログラミングのために統合されています。このユニットはまた、テストプロセス中のエラーを確実に検出するように設計されています。6TST-516上では、正確な故障検出を可能にするために信号品質の終了が行われ、そのスマートソフトウェアは無効なテスト結果を検出して報告するように設計されています。これらの機能を組み合わせることで、誤検知を低減すると同時に、テスト時間と精度にも対応できます。この6TST-516には、使いやすい直感的なヒューマンマシンインターフェイス（HMI）が装備されています。ユーザーは、グラフィカルインターフェイスの助けを借りてマシンにアクセスすることができます。これにより、欠陥をすばやく特定し、アプリケーションをセットアップし、テストとレポート作成プロセスを監督できます。さらに、ユーザーはツールのパフォーマンスを監視し、レシピやデバイスのテスト結果に便利なストレージを提供することに加えて、外部データベースにそのステータスを報告することもできます。全体として、Catalyst 6TST-516は半導体デバイスの自動電気テストに絶大な能力を提供します。インテリジェントなプログラミング能力、高速機能、直感的なユーザーインターフェイス、エラー検出機能を備え、最終的なデバイステスト用の完全なパッケージを提供します。