中古 TERADYNE A575 #9093160 を販売中

TERADYNE A575は、最も包括的な回路内テストとデバイス検証のための包括的で完全に統合されたソリューションを提供する画期的な最終試験装置です。TERADYNE A 575は最先端のテスト技術をもたらし、製品品質保証のための新しい標準を設定します。このシステムは、各デバイスタイプの障害モデルのライブラリから派生した強力なテストパターンを使用しており、エンジニアはさまざまなテスト方法を使用して異常、偏差、または欠陥をテストできます。複数のテストマシンを使用した環境でのマルチサイトテスター機能、および多くの異なるデバイスやコンポーネントをテストする柔軟性をサポートします。A575には、フル機能の機能識別、出力スキャン、スキャンイネーブル/フォース機能などの高速インサーキットテスト機能もあります。さらに、複数の物理テストポイント（SIL、 BGA、 PGA、 SOICなど）と多数のデバイス構成をサポートし、幅広いデバイスで高精度なテスト結果を得ることができます。統合されたデータロギングおよびレポートツールにより、A 575は堅牢でクローズドループのデバイステストを提供します。テストからのデータキャプチャはリアルタイムで行われ、包括的な分析と簡単なレポート作成が可能です。このマシンはまた、各テストポイントに対するリアルタイムのフィードバックと各テスト結果の検証を提供し、エンジニアはデバイスまたは製造プロセスの問題をすばやく特定することができます。TERADYNE A575では幅広いデバイスハンドラを使用でき、非常に小さな表面実装コンポーネントから大規模なパッケージデバイスまで、あらゆるタイプのデバイスを効果的にテストできます。アセットは、クイックデバイスの切り替えだけでなく、複数のデバイステストモードをサポートしています。TERADYNE A 575はセットアップ、メンテナンス、アップグレードも簡単に行えるように設計されています。このモデルは、最小限の労力で特定のテスト要件を満たすように簡単に構成および設定することができます。この機器には、簡単なシステム診断ツールと強力な分析ツールも含まれており、エンジニアは問題を迅速に特定してトラブルシューティングすることができます。結論として、A575は、インサーキットテストとデバイス検証のための包括的なソリューションを提供する強力な最終テストユニットです。このマシンは、高精度でさまざまなコンポーネントやデバイスを迅速にテストするための幅広い機能を提供しています。このツールには、統合されたデータロギング、簡単なセットアップと構成、およびあらゆる問題の迅速な分離と解決を可能にする強力な分析ツールが含まれています。