中古 TERADYNE A565 #9006373 を販売中
URL がコピーされました!
ID: 9006373
VLSY-System, CT69
Configuration:
ct69t is a 1 processor system
Processor 1: 440 MHz sparc (online)
PCI based system
Terabus is present
Board ID 949-824-00
TCI is present
PATH_II_TH 1
CONFIGID 949-688-01
#Slot Type Num XptA XptB Name
1 879-943-01 0 # 0 0 H50 TDR
2 879-936-00 0 # 0 0 H50 THS
3 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
4 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
5 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
6 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
7 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
8 879-935-51 0 # 0 0 H50 DTH
17 000-000-00 0 # 5 6 EMPTY
18 879-858-25 0 # 7 8 PLFS CC
19 879-858-35 0 # 9 10 PLFD CC
20 879-853-01 0 # 11 12 HF DIG CC
21 000-000-00 0 # 13 14 EMPTY
22 879-906-04 0 # 15 16 VHFAWG CC
23 879-792-00 0 # 17 18 TIME CC
24 879-906-04 0 # 19 20 VHFAWG CC
25 879-754-00 0 # 21 22 CDIG CC
11 879-656-00 0 # 0 0 RDC48
15 949-679-00 0 # 3 3 HUC 200
12 879-653-00 0 # 0 0 HAC
13 879-654-00 0 # 0 0 TACH
14 879-667-01 0 # 0 0 PATH II CAL
16 879-834-01 0 # 0 0 Analog Data Buffer AL
END
PATH_II_TH 2
CONFIGID 949-688-01
#Slot Type Num XptA XptB Name
1 879-943-01 0 # 0 0 H50 TDR
2 879-936-00 0 # 0 0 H50 THS
3 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
4 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
5 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
6 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
7 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
8 879-935-65 0 # 0 0 HSD25 DTH
17 000-000-00 0 # 5 6 EMPTY
18 879-858-25 0 # 7 8 PLFS CC
19 879-858-35 0 # 9 10 PLFD CC
20 879-853-01 0 # 11 12 HF DIG CC
21 000-000-00 0 # 13 14 EMPTY
22 879-906-04 0 # 15 16 VHFAWG CC
23 879-792-00 0 # 17 18 TIME CC
24 879-906-04 0 # 19 20 VHFAWG CC
25 879-754-00 0 # 21 22 CDIG CC
11 879-656-00 0 # 0 0 RDC48
15 949-679-00 0 # 3 3 HUC 200
12 879-653-00 0 # 0 0 HAC
13 879-654-00 0 # 0 0 TACH
14 879-667-01 0 # 0 0 PATH II CAL
16 879-834-01 0 # 0 0 Analog Data Buffer AL
END
#
# Up to 4 Precision AC Card Cages are allowed
#
PRECISION_AC 1
#Slot Type Num Name
1 879-765-04 0 # PLFDIG
2 879-764-01 0 # PLFSRC
3 879-779-00 0 # 1M SMEM
4 879-772-01 0 # HFDIG
5 879-742-20 0 # CMEM
6 949-608-00 0 # VHFAWG
7 949-608-00 0 # VHFAWG
8 879-781-00 0 # PACS CAGE INT
END
#
# Up to 8 Universal Backplane/Synch Power Subsystem
# cages are allowed
#
# For the Synch Power Subsystem:
# Slot Type Name Instr1 # Instr2 # Ammeter #
#
# Instr1 # - insrument connected to the first two matrix lines
# Instr2 # - insrument connected to the last two matrix lines
# Ammeter # - ammeter connection
# to AVOID errors, put NO 0 if no instrument is connected.
#
#
UB_SPS_CAGE 1
# Slot Type Num Name
1 879-802-02 0 # UB_SPS_802
2 517-301-00 0 # UB_APU
3 517-301-00 0 # UB_APU
4 517-301-00 0 # UB_APU
5 517-301-00 0 # UB_APU
6 517-301-00 0 # UB_APU
7 517-301-00 0 # UB_APU
8 517-301-00 0 # UB_APU
9 517-301-00 0 # UB_APU
10 517-301-00 0 # UB_APU
11 517-301-00 0 # UB_APU
12 517-301-00 0 # UB_APU
13 517-301-00 0 # UB_APU
14 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 1
15 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC MAT 2
16 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC DUT 1
17 879-925-01 0 # UB_60_V_SRC DUT 2
20 879-690-00 0 # UB_ASY
22 517-300-00 0 # UB_TJ300
END
HSD50_CHAN_CAGE 1
#Slot Type Num Name
1 879-933-65 0 # HSD25 DMF
2 879-933-65 0 # HSD25 DMF
3 879-933-65 0 # HSD25 DMF
4 879-933-65 0 # HSD25 DMF
5 879-934-01 0 # H50 MFS
6 879-933-65 0 # HSD25 DMF
7 879-933-65 0 # HSD25 DMF
END
HSD50_SEQ_CAGE 1
#Slot Type Num Name
2 879-945-01 0 # H50 AFO
4 879-942-05 0 # H50 SFO
5 879-934-01 0 # H50 MFS
6 879-937-02 0 # H50 SCM
7 879-938-01 0 # H50 DMC
END
HSD50_DIG_SIG_CAGE 1
#Slot Type Num Name
1 879-953-00 0 # VBF
2 879-939-01 0 # DSI
3 879-745-00 0 # S_MEM
4 879-957-00 0 # DCB
5 879-742-40 0 # C_MEM
9 879-731-00 0 # CAGE INTR
END
#
# Trigger Switch Yard
#
# Note: The logical slot numbers below correspond to the physical slot
# numbers only for test systems which contain a TSY card
# cage. In test systems which contain an SCS/TSY card cage the
# mapping is:
#
# Logical TSY slot (below) Physical slot
# 1 -> 2
# 3 -> 1
#
TSY CAGE
#Slot Type Num Name
1 879-655-02 0 # TSY
2 000-000-00 0 # EMPTY
3 000-000-00 0 # EMPTY
4 000-000-00 0 # EMPTY
END
#
# Time Subsystem
#
TIME_SUBSYSTEM
# Board ID Name
879-793-00 # TMS Timer
879-794-01 # TMS Counter
879-795-01 # TMS Support
END
#
# DC Subsystem -
#
# SRC <NUM> [1 - 13]
# (sources 1-5 are MATRIX sources 1-5
# sources 6-13 are DUT sources 1-8)
# HCU <NUM> *[1 - 4]
# REF HCU <NUM> *[1 - 4]
# HVSRC <NUM> *[1 - 4]
# PWRSRC <NUM> [1 - 4]
# DATABITS <NUM> - <NUM> [1 - 192]
#
# ** These instruments share the same seven-slot cage -- only one
# instrument is allowed per slot.
#
DC_SUBSYSTEM
# UBVI 60 1 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 14)
# UBVI 60 2 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 15)
HCU 4
# UBVI 60 6 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 16)
# UBVI 60 7 ( 60V V/I Source in Universal Backplane 1 : slot 17)
HCU 8
DATABITS 1 - 48
# UB_MATRIX
#
# Testhead 1
# XPTs UB Cage Slot Type
# 1-4 1 2 APU
# 5-8 1 3 APU
# 9-12 1 4 APU
# 13-16 1 5 APU
# 17-20 1 6 APU
# 21-24 1 7 APU
# 25-28 1 8 APU
# 29-32 1 9 APU
# 33-36 1 10 APU
# 37-40 1 11 APU
# 41-44 1 12 APU
# 45-48 1 13 APU
#
# Testhead 2
# XPTs UB Cage Slot Type
# 1-4 1 2 APU
# 5-8 1 3 APU
# 9-12 1 4 APU
# 13-16 1 5 APU
# 17-20 1 6 APU
# 21-24 1 7 APU
# 25-28 1 8 APU
# 29-32 1 9 APU
# 33-36 1 10 APU
# 37-40 1 11 APU
# 41-44 1 12 APU
# 45-48 1 13 APU
END.
TERADYNE A565は、半導体業界の高性能アプリケーション向けに設計された最先端の「最終試験」装置です。これは、小容量と大容量の両方をテストするための包括的で効率的なシステムです。これは、サイクル時間を短縮し、ファインピッチプロービングを改善するための強化された並列プロービング機能を提供する完全に自動化されたテスターです。その機械的構成は、半導体産業に最適なテストカバレッジを可能にするように特別に設計されています。ユニットはまた、操作効率が高く、大規模なテストアーキテクチャを管理し、テストコストを削減するために調整されています。A565は、生産と開発の両方で多くのテストのニーズを満たす高度にカスタマイズ可能でスケーラブルなプラットフォームです。その優位性は、そのモジュラー設計から来ています。その高度なモジュラーアーキテクチャにより、複数のテストコンポーネントを1つのフレームに組み合わせることができます。また、必要に応じて自動試験装置（ATE）、電源、その他の機器などの関連機器にも取り付けることができます。TERADYNE A565を構成する主なコンポーネントは、専用のテストマシンプラットフォーム、テストヘッド、プラットフォームコネクタ、テストパッド、プローバー、および画像キャプチャです。これらのすべてのコンポーネントは、完全なツールを形成するために一緒に来る。テストアセットプラットフォームには、テストコントロールソフトウェアとグループ同期ソフトウェアが含まれています。テストヘッドには、テスターの測定機能の割り当てと制御のためのソフトウェアプログラムが含まれています。プラットフォームコネクタは、揮発性メモリと指定されたテストエリア間の強力な通信を可能にします。テストパッドは、プローバーをマウントし、テストモデルの環境で最適なプロービングを提供するサーフェスです。プローバーは、テスト対象デバイス（DUT）の電気特性を測定する特殊なユニットです。最後に、画像キャプチャは、テスト中のデバイスの画像をキャプチャして保存します。A565は、非常に高速で大容量の性能を発揮できるように設計された信頼性の高い機器です。また、高速運転や動的な条件変化にも迅速に対応できます。テストシステムは0。6um分解能まで検出できる精密な検出の単位と高精度のために設計されています。また、高度なタッチ感受性プローブ技術を備えており、高信頼性試験に優れたプロービング精度を提供します。TERADYNE A565は、その機能を補完するために、自動プローブ洗浄、自動故障履歴、およびビジョンガイド・デバイス・プロービング用の高度なビジョンシステムなどのオプションの機械機能に対応できます。また、自動テストプログラム生成（ATPG）機能といくつかの診断オプションも提供しています。これらのすべての機能により、A565は効率的で費用対効果の高い半導体テストソリューションのリーダーであることが証明されています。
まだレビューはありません