中古 TERADYNE A565 #293765411 を販売中

TERADYNE A565は、半導体業界の高性能アプリケーション向けに設計された最先端の「最終試験」装置です。これは、小容量と大容量の両方をテストするための包括的で効率的なシステムです。これは、サイクル時間を短縮し、ファインピッチプロービングを改善するための強化された並列プロービング機能を提供する完全に自動化されたテスターです。その機械的構成は、半導体産業に最適なテストカバレッジを可能にするように特別に設計されています。ユニットはまた、操作効率が高く、大規模なテストアーキテクチャを管理し、テストコストを削減するために調整されています。A565は、生産と開発の両方で多くのテストのニーズを満たす高度にカスタマイズ可能でスケーラブルなプラットフォームです。その優位性は、そのモジュラー設計から来ています。その高度なモジュラーアーキテクチャにより、複数のテストコンポーネントを1つのフレームに組み合わせることができます。また、必要に応じて自動試験装置（ATE）、電源、その他の機器などの関連機器にも取り付けることができます。TERADYNE A565を構成する主なコンポーネントは、専用のテストマシンプラットフォーム、テストヘッド、プラットフォームコネクタ、テストパッド、プローバー、および画像キャプチャです。これらのすべてのコンポーネントは、完全なツールを形成するために一緒に来る。テストアセットプラットフォームには、テストコントロールソフトウェアとグループ同期ソフトウェアが含まれています。テストヘッドには、テスターの測定機能の割り当てと制御のためのソフトウェアプログラムが含まれています。プラットフォームコネクタは、揮発性メモリと指定されたテストエリア間の強力な通信を可能にします。テストパッドは、プローバーをマウントし、テストモデルの環境で最適なプロービングを提供するサーフェスです。プローバーは、テスト対象デバイス（DUT）の電気特性を測定する特殊なユニットです。最後に、画像キャプチャは、テスト中のデバイスの画像をキャプチャして保存します。A565は、非常に高速で大容量の性能を発揮できるように設計された信頼性の高い機器です。また、高速運転や動的な条件変化にも迅速に対応できます。テストシステムは0。6um分解能まで検出できる精密な検出の単位と高精度のために設計されています。また、高度なタッチ感受性プローブ技術を備えており、高信頼性試験に優れたプロービング精度を提供します。TERADYNE A565は、その機能を補完するために、自動プローブ洗浄、自動故障履歴、およびビジョンガイド・デバイス・プロービング用の高度なビジョンシステムなどのオプションの機械機能に対応できます。また、自動テストプログラム生成（ATPG）機能といくつかの診断オプションも提供しています。これらのすべての機能により、A565は効率的で費用対効果の高い半導体テストソリューションのリーダーであることが証明されています。