中古 TERADYNE A565 #293589416 を販売中

TERADYNE A565 Final Test Equipmentは、プロセッサ集約型アプリケーションの大量のテストニーズを満たすように設計されています。それは統合されたテストパラメータ、速いサイクルタイムおよび所有権の低コストを提供するモジュラー、ソフトウェアプログラム可能なテストシステムです。このユニットは、メモリ、アナログ、デジタル、マイクロコントローラ、およびチップ（SoC）デバイス上のマシンのテストに使用できます。複数のDSPVuoイメージングを備えており、高いテスト品質を必要とする複雑な設計をテストするための信号対ノイズ比が向上しています。高度なデジタル信号プロセッサ（DSP）とデジタルベクターユニット（VUO）技術を活用し、高速で高精度なテストソリューションを実現しています。このツールは、さまざまなテストテクニックとパラメーターを並列に実行することもでき、最大200 Mpoints/secのテストスループットと0。35 msの最小テストタイムを可能にします。アセットは、テストプロセスのフローに簡単に統合することができ、テストプログラム、テスターハードウェア、および関連ソフトウェアの完全な統合を可能にします。A565は、TERADYNE Application Engineeringチームによって開発され、テストプラクティスの最先端を示す、製品固有のテストの大規模なリファレンスライブラリを提供しています。このモデルはまた、ユーザーがテストをカスタマイズし、独自のテストを作成し、メモリDIMMテスト、機器シーケンシャルテスト、アナログ、パワー、ノイズ監視など、最終テストの制御オプションを幅広く備えています。また、テストのセットアップとパラメータ選択を完全に制御するための直感的なGUIと、テストとアライメントのためのメニュー駆動の指示も備えています。高度なユニット診断により、精度と信頼性が向上し、ダウンタイムが短縮され、デバッグまでの時間が短縮されます。さらに、TERADYNEが特許を取得したEchoテストおよびDiagnostic Fixtureにより、テスト条件をリアルタイムで検証することができます。TERADYNE A565は、大量生産試験に最適なソリューションであり、さまざまな試験要件に対応できます。高度なテストツール機能、高速サイクルタイム、改善された信号対ノイズ比、高度な診断、ユーザーフレンドリーなインターフェイスにより、A565はプロセッサの集約的な製品をテストするための効率的で低コストのソリューションを提供します。