中古 TERADYNE A565 #150230 を販売中

TERADYNE A565は、さまざまな製品に費用対効果の高い信頼性の高いテストソリューションを提供する汎用性の高い最終試験装置です。メモリ、プロセッサ、デジタル測定IC、 コンシューマICなど、幅広い半導体、システム、ボードレベルの製品をテストすることができます。A565ユニットは、優れた性能とコスト削減を同時に提供しながら、処理速度と電力要件の広い範囲をサポートしています。高度なデジタル信号処理（DSP）は、革新的なセンシングアーキテクチャと組み合わせて、困難なテスト要件に対処するための最適化されたテストミックスを提供します。このマシンは、柔軟性、拡張性、高速テスト機能など、将来の業界の高い要件に対応するように設計されています。TERADYNE A565ツールは、信号処理専用のユニットで構成されています。このシグナルプロセッサ（SP）は、すべてのオンボード回路シミュレーション、RF信号生成、および信号コンディショニングを処理します。また、高速アナログおよびデジタルデータの取得にも対応しているため、試験歩留まりと部品品質の測定が向上します。また、ストロボや周波数測定などの難しい試験にも高速ロジック測定が可能です。統合コントローラであるEOS X-Axisは、さまざまなテストプログラムとアルゴリズムの統合を可能にします。この多機能コントローラは、すべてのテスト操作を調整し、データとテスト結果の正確な収集を保証します。結果として得られたデータは機器の読み出しエレクトロニクスに送信され、結果としてテスト結果が瞬時に解釈されます。A565システムには、プログラミングオプションの配列も含まれています。このユニットには、完全なロジック、圧縮、およびルールベースのアルゴリズムを備えた統合ソフトウェア開発環境（SDE）があります。また、SDEを使用すると、階層的な圧縮とカスタムのテスト機能の開発が可能になります。TERADYNE A565のデジタルパターンジェネレータとプログラマブルなスケルチ機能により、信頼性と正確なパラメトリックテストを実現します。このマシンはまた、高速ロジック操作を含む、一貫した方法で幅広いパラメトリックテストを実行することができます。ツール構成には、幅広いセンシングアーキテクチャとテスト要件があります。A565は、高度なデータ分析と可視化パッケージも備えています。これにより、ユーザーは資産パフォーマンスの包括的な概要を得ることができ、テスト結果を詳細に分析する機能も提供できます。全体として、TERADYNE A565は、幅広い半導体および基板レベルのデバイスに適した高度で費用対効果の高い最終試験モデルです。統合されたデジタル信号処理、コントローラ、ソフトウェア開発環境、デジタルパターンジェネレータ、幅広いプログラミングオプションにより、包括的で効率的で正確なテストプラットフォームが可能です。