中古 TERADYNE A563-HS #130956 を販売中

TERADYNE A563-HSは、要求の厳しい半導体試験用に特別に設計された最先端の最終試験装置です。いくつかのユニークな機能と機能を備えており、精度と信頼性が最も重要な場合に理想的な選択肢です。A563-HSは柔軟なテスト機能を提供しており、ユーザーはテスト構成をカスタマイズし、正確なニーズを満たすために幅広いテストプロトコルを適用できます。1,024チャネルシステムマトリックスを備えており、フローティングピンアーキテクチャを使用しているため、負荷容量が低く高速なパターン速度を実現できます。これにより、TERADYNE A563-HSは最新の高速マイクロプロセッサやその他の複雑なデバイスのテストに最適です。リアルタイムのエラー検出と修正には、マルチセテクト、ディスパリティ分析、およびバランスロジック技術を使用してテスト中のエラーを最小限に抑え、歩留まりを向上させる高度なTwinFlex™技術が提供されています。A563-HSはまた、検査時間を犠牲にすることなく高いデバイス精度を提供する検索レベル技術で可能な限り最高の診断精度を提供します。TERADYNE A563-HSは、並列テストとプログラミングのためのさまざまな機能も提供しています。これにはマルチユニットアレイテストが含まれ、最大4台のHDRを同時にテストできるため、テスト時間を短縮できます。利便性と柔軟性を高めるために、統合された内蔵のデータベースとプログラミングユニットもあり、エンドユーザーはテストを保存、変更、およびリコールすることができます。このマシンは、バーコードリーダーやその他のオフラインソースなど、さまざまな種類のデータロガーとインタフェースすることができ、簡単なテストとデータ管理を可能にします。さらに、A563-HSはイーサネット、USB、 ATE、 SPIインターフェイスなど、複数のI/Oオプションを提供しています。これにより、複数のテストサイトに同時に接続することができます。これらの機能とツールの高度で信頼性の高いテスト機能を組み合わせることで、TERADYNE A563-HS高速テストアプリケーションに最適なソリューションとなります。高精度、柔軟性、高速性により、高いデバイス歩留まりと効率的な試験スループットを確保するのに最適です。