中古 TERADYNE A360 #9313130 を販売中

TERADYNE A360は、半導体デバイスメーカーが完成した半導体デバイスを迅速にテストおよびソートするために設計された高性能の最終試験装置です。検出が困難な障害、クラス最高の精度、最大75,000台のデバイス/時間の高スループットにより、故障したデバイスを正確かつ迅速に識別でき、製造メーカーはサイクルタイムを短縮して製造目標を達成できます。DCパラメトリック、高電流/低電圧スイッチング、低電圧AC測定、光学プロービング、高出力、高電圧/電流/温度テスト、周波数応答など、完全なテストカバレッジを提供します。これらのテストを通じて、デバイスのどの部分が欠陥があるかを正確に特定できます。すなわち、このシステムは、デバイスレベルの障害の発見と修正に必要な情報を提供し、製品品質の向上と顧客満足度の向上を可能にします。このユニットは、チップ上の複雑な機械（SoC）から標準ロジックおよびディスクリート装置まで、さまざまなデバイスで使用することができ、ウェハファブでの効率的な使用に最適化されています。これは、デバイス・テスト技術とデバイス・ソート機能の仕様に合わせてツールを構成し、高密度テストサイト、モジュールあたりのフル機能のI/O、および複数のテストメディアのサポートを使用して可能な限り最高のテスト密度を実現することによって実現します。このアセットの直感的なユーザーインターフェイスは、包括的なデバイステストソフトウェアサポート、テストリソースへのオンラインリンク、オンラインサポートドキュメントをユーザーに提供することで、テストの生産性を向上させるのに役立ちます。この包括的なテストソリューションは、将来のテストの課題とプロセスの変更に対応するように設計されており、最も信頼性の高いテストモデルを提供します。ソフトウェアの拡張性、ハードウェアの拡張性、業界をリードするオンサイトサービスとサポートを組み合わせ、最高の投資収益率を提供します。高度な機能により、カスタムオートメーション、8ビームテスト、追加のテスト命令など、機器内のアップグレードが可能です。これは、プロセスの複雑さとデバイスの課題が増加するにつれて、メーカーはTERADYNE A 360に依存して競争に先んじていることを意味します。また、包括的なテストサポートツールを提供し、テストとソート操作のコストと長さを削減します。これには、ソフトウェア統合、環境テスト、プロセスシミュレーション、デバイス解析および障害検証、テストプログラム開発および校正ガイダンスが含まれます。さらに、ポストプロダクションテストとデバイスプログラミングは、1つの柔軟な最終テストユニットで処理でき、包括的な生産性の向上を実現します。全体的に、A360は最も複雑なデバイスのテストの課題を満たすように設計されており、最終的には最短時間で最高品質のテスト結果を提供します。テスト技術の強力な組み合わせ、製品の多様性と技術革新に対応するための組み込みの柔軟性、および業界をリードするサービスとサポートにより、A 360は産業用デバイスメーカーに最適です。