中古 TERADYNE 239-700-04 #9188594 を販売中

TERADYNE 239-700-04は、高速モジュールの生産試験用に設計された最先端の最終試験装置です。これは、大量、高信頼性、ミッションクリティカルな環境での使用を想定して設計されています。このシステムは、最大50メガビット/秒（Mbps）の速度で32ビットテストを実行でき、複数のテストニーズに対応する柔軟なテストスイートと構成可能なハードウェア設計が含まれています。239-700-04は、複数のメモリモジュールを同時にテストし、高速で信号整合性を検証することができます。最新のメモリおよびストレージインターフェイス規格と完全に互換性があり、あらゆる本番環境に簡単に適用および構成できます。このユニットは、信頼性の高い正確で徹底的なテスト実行機能を提供する堅牢なテストエンジンを搭載しています。TERADYNE 239-700-04は、DFT （Design For Testability）を内蔵しています。これにより、お客様は追加の試験装置や技術者を必要とせずに、機械を既存の試験計画に簡単に統合できます。このツールには強力な診断および分析ツールも装備されており、ユーザーは潜在的な信号整合性の問題をすばやく診断して対処することができます。このアセットは、線形試験とインターリーブ試験の両方をサポートしており、お客様はテスト時間を最も効率的に使用するためにテストサイクルを最適化することができます。さらに、このモデルは複数のテストプラットフォームオプションを提供しており、お客様は特定のテストニーズに最適なプラットフォームを選択することができます。また、PLL、 LSSD、タイミングチップ、I/Oバッファ、アナログ機能ブロックなどの追加のテストコンポーネントを統合するオプションも提供します。239-700-04は、標準速度とピーク速度の両方でテストをサポートするように構成することができ、最大のテスト範囲と信頼性を確保します。さらに、柔軟な設計により、お客様はさまざまなタイプのメモリモジュールのテストを開発できます。また、統合された診断および分析ツールは、潜在的な信号整合性の問題を迅速に解決するためのサポートを提供します。最後に、システムは既存の生産ラインに簡単に組み込むことができ、企業の時間とコストを節約できます。