中古 SPEA C372MX #293589284 を販売中

SPEA C372MXは、さまざまなタイプの電子モジュールで正確で信頼性の高い試験結果を得るように設計された非常に高度な最終試験装置です。それはさまざまな産業および実験室の使用法のために適している典型的な第3世代の高速時間領域反射計（TDR）の基づいたシステムです。洗練されたオンボードシグナルプロセッサとソフトウェアと独自のテストアルゴリズムを組み合わせ、正確で再現性のある結果を提供します。SPEA C372-MXユニットはユーザーフレンドリーな操作を提供します。使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイスにより、さまざまなテストパラメータを設定し、テストポイントを迅速かつ正確に定義できます。シグナルプロセッサは、低電圧グランドから高電圧まで、入力信号のフルレンジで動作し、信号でテストされているデバイスまたはコンポーネントの特性を測定することができます。C372MXマシンは、コンポーネント特性を決定するためのさまざまなパラメータを提供しています。これらのパラメータには、挿入損失（IL）、リターンロス（RL）、誘電率（K）が含まれます。幅広い測定機能により、コネクタ、ケーブル、フィルムコンデンサ、抵抗、各種ICなどの部品を正確に検査できます。アセットには、以前にテストされたコンポーネントのテストポイント測定値を保存し、測定されたパラメータの結果をレポートする機能もあります。また、C372-MXモデルは、そのテストの結果を分析するための包括的なツールのセットを提供します。これらには、特性評価曲線やインピーダンス/周波数プロットなどのコンポーネントの性能を評価するための手動測定と自動化された測定の両方が含まれます。これは、デバイスの加速度と安定性を決定するために特に便利です。最後に、機器には結果情報を保存およびテストするためのデータベースが含まれており、問題や問題を簡単に比較して識別することができます。結論として、SPEA C372MXシステムは、優れた性能を提供する信頼性と高効率の最終試験ユニットです。高度な処理能力と包括的なテストアルゴリズムにより、機械は品質と信頼性の高い結果を保証します。ユーザーフレンドリーなインターフェイスを通じて、SPEA C372-MXは、さまざまなコンポーネントをテストし、結果を迅速かつ正確に分析するためのシンプルで包括的な方法を提供します。