中古 NIKON N-SISVR #9157716 を販売中

ニコンN -SISVRは、ICソケットまたはダイテスト用に設計された高性能の最終試験装置です。これは、最も要求の厳しい性能要件のための自動化された電気試験技術の最新を備えています。システムは異なった性能の2つのモデルで利用できます。NIKON N SISVR-Mは、最大500サンプルの高速試験を提供するミッドレンジ版であり、N SIS VR-Hは最大1000サンプルの高速試験を提供するハイエンド版です。N SISVRは、高度なハードウェアとソフトウェアの強力な組み合わせを備えており、高精度と高速性を保証します。ユニットは、完全なソリューションを提供するために統合されているさまざまなコンポーネントに基づいています。ハードウェアには、コントローラ、テストヘッド、テストヘッドケーブル、クランプ、テストセル、電源、およびテストヘッドコントロールパネルが含まれています。このコントローラは、DSP駆動のデバイスで、1024 MB RAM、 8チャネルの高速イーサネット接続、最大16の差動アナログ/デジタル・コンバータ（ADC）およびデジタル/アナログ・コンバータ（DAC）を備えています。これは、最大32のテストチャネルに対応できる高速で正確なテストマシンを提供します。N-SISVRは、電気、機械、温度試験など、さまざまなテストオプションも提供します。すべてのテストは、内蔵の校正ツールを使用して行われます。校正アセットは、高精度のレーザー干渉計を使用して、各テストの精度と再現性を保証します。テストヘッドケーブルとクランプは、テストサンプルとテストヘッド間の最良の接続を確保するように設計されています。テストヘッドコントロールパネルは、テストステータスを制御および監視するための専用のデジタル入力と出力を備えています。NIKON N-SISV-Rは、サーマルサイクリング、オートリトラクト、T-Zero検出などの機能により、ダウンタイムを最小限に抑えるように設計されています。自動リトラクトは、使用していないときに自動的にテストソケットのピンを引き込み、放します。これにより、効率が向上し、過剰な使用によるテストソケットの損傷を防ぎます。サーマルサイクリング機能は、さまざまな温度範囲のコンポーネントをテストするためのサーマルサイクリング機能を提供します。これは、さまざまな温度環境でテストすることにより、部品の寿命を延ばすのに役立ちます。最後に、T-zero検出はテスト開始時と停止時に正確に検出されるため、テスト精度が向上します。N-SISV-Rは、精度と再現性を提供する信頼性の高い高速テストモデルです。この装置は、最新の技術と高度な機能で設計されており、さまざまなアプリケーションで信頼性の高いパフォーマンスを保証します。専用のデジタルおよびアナログ入力による電気、機械、温度試験など、さまざまなテストオプションを提供します。内蔵のキャリブレーションシステムとサーマルサイクリングにより、テストの開始と停止を正確に検出でき、精度が向上し効率が向上します。最後に、自動リトラクトとT-zero検出により、ユニットの損傷が少なくなり、信頼性が向上します。