中古 NEXTEST / TERADYNE Maverick PT-II #9122402 を販売中

ID: 9122402
ヴィンテージ: 2002
Tester (64) Digital Channels Error Catch RAM (ECR), 144M Superset Architecture 33/66/133 MHz Maximum Test Rate Algorithmic Pattern Generator Data Buffer Memory, 144M Drive Levels-per-pin (4) Parametric Measurement Units (4) Device Power Supplies PC Workstation with NextSoft Release 128M Bytes Main Memory 40G Byte Disk Standard 17" CRT Display (1) DUT BD, PT, 1Site with Connector 2002 vintage.
NEXTEST/TERADYNEマーベリックPT-IIは、複数のプロセスを同時に自動テストおよび測定する必要がある集積回路メーカーのニーズを満たすように設計された高性能の最終試験装置です。NEXTEST Maverick PT-IIは、最終テスト、バーンインテスト、YieldStar、可視化、パッケージテスト、フォルト分離、ソフトウェア検証、Return-to-Zero-Test (RTZ)、および熱特性評価に使用できるオールインワンテストシステムです。TERADYNE MAVERICK PT IIの高いスループット、柔軟性、スケーラビリティ、スケーラビリティにより、あらゆるPCB開発のテストおよび測定ニーズ、高品質のデジタルおよびアナログエレクトロニクスの開発、および回路検証に最適です。Maverick PT-IIは、PCベースのTestStationソフトウェア、TestStationコンソール、デバイスマスター、マルチレベルタイミングボード、RTZボード、マルチテストボード、動的測定ユニットなどの幅広い技術を利用しています。これらの機能は、単一のネットワーク上で最大32台のデバイスを同時にテストするための機能内操作を提供します。MAVERICK PT IIには、チップ(SoC)ベースの試験機と高速シリアルバスにユニットが組み込まれており、1秒あたり最大10,000ペアの刺激応答ペアを備えた同時マルチデバイス試験が可能です。その高度な機能テストアプリケーションは、メモリ、ロジック、メモリマップ、およびプログラマブルロジックデバイスをサポートすることができ、In-circuit Test Board、 Prober Station、またはAutomatic Handlerと密接に連携することができます。TERADYNE Maverick PT-IIの高度なプログラミングとデバッグ機能は、制御環境での設計障害のテストと分離を簡単かつ迅速に行うことができます。NEXTEST/TERADYNE MAVERICK PT IIには、プローブカード、ビジュアライザ、統計ツールなど、さまざまな診断ツールも用意されています。NEXTEST MAVERICK PT IIのプローブカードマネージャ(PCM)は、プローブカードの動作と性能を綿密に監視し、欠陥デバイスの正確な診断を提供するように設計されています。NEXTEST/TERADYNE Maverick PT-IIは、リアルタイムのデータ分析と可視化も提供し、設計パラメータの迅速な検証、複雑なデータのパターンと傾向の特定、テストツールの機能の監視を可能にします。このデータ分析と可視化により、エンジニアは欠陥を迅速に特定し、設計を検証することができます。テストデータは、NEXTEST Maverick PT-IIのハードディスクドライブ(HDD)に保存され、その後の検証、実装、データストレージを行います。TERADYNE MAVERICK PT IIは、テストデータを分析し、包括的なレポートを作成するためのオプションのログ分析アプリケーションも提供します。Maverick PT-IIは、生産および品質保証のすべての段階に対応する包括的なソフトウェアおよびハードウェアツールを提供します。スマートオートメーションと相まって、堅牢なデータ取得と分析機能により、高度な製品テストと品質保証に不可欠なツールとなります。
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