中古 NEXTEST / TERADYNE Maverick PT-II #9100711 を販売中

NEXTEST/TERADYNEマーベリックPT-IIは、主に完成した半導体およびICデバイスの試験および検査に使用される、市場をリードする半導体「最終試験」装置です。この包括的なプラットフォームは、デジタル、ミックスドシグナル、アナログ技術における業界をリードするドメインの専門知識と、最新のハードウェアおよびソフトウェア技術を組み合わせて、今日の高性能でハイエンドの半導体製造のニーズを満たします。NEXTEST Maverick PT-IIシステムはNEXTEST NAOSアーキテクチャを使用しており、プラットフォームは幅広いアプリケーション要件を満たすことができます。このアーキテクチャは、幅広いテスト戦略とテストパラメータ定義をサポートしており、より高い柔軟性、速度、およびテスト時間に対する事実上の制限を提供します。高速なデータキャプチャと分析機能により、プラットフォームはさまざまな複雑な設計を極めて正確にテストできます。また、電圧、電流、周波数精度、遷移時間、ピーク電力レベルなどのデバイスの動作パラメータを正確に測定し、機能テスト中に監視することもできます。さらに、TERADYNE MAVERICK PT IIユニットは、関連するテストシステムとの統合により、高度なテストマシンの自動化とデータ管理を提供します。自動生成および管理されたテストスクリプトを備えているため、ユーザーは手動での作業を最小限に抑えてテストの設計、修正、展開を迅速に行うことができます。このプラットフォームは、ベアダイ、CSP、ウェハスケールなどのデバイスのさまざまな構成をサポートしています。また、ユーザーはデバイス構成モジュールをインポートしてツールにプログラムすることもできます。NEXTEST MAVERICK PT IIは、半導体ファイナルテストドメインの業界をリードするソリューションであり、お客様に対応するように設計されています。最も厳格な評価要件。高度な検出と診断機能と強力なオートメーション機能を組み合わせて、さまざまなデバイスの設計とレイアウトのテストと検証を可能にします。このプラットフォームにより、ユーザーは最先端のテストプログラムと戦略を開発、統合、展開できます。さらに、高度なデータ管理と分析、柔軟性により、あらゆる半導体テストおよび検査アプリケーションに最適なソリューションとなります。