中古 NEXTEST / TERADYNE Maverick II ST #9279294 を販売中
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ID: 9279294
Tester
Clock speed: 66 / 133 MHz
IO Pins: 128
Pin electronics: 8
(2) Algorithmic pattern generators
Data buffer memory: 36 M
Vector memory: 4 M
Error catch memory: 36 M
Scan memory: 2 M.
NEXTEST/TERADYNE Maverick II STは、中規模から大量のアプリケーション向けに設計された最先端の高性能ファイナルテスト(FT)装置です。テスト品質と精度を犠牲にすることなく、非常に高速なスループットと市場投入までの時間を提供します。NEXTEST Maverick II STは、強力な320MHz TesterON eXtreme (TXP)アーキテクチャなどの最新の先進技術を搭載しており、柔軟なテスト戦略で非常に高速なテストを可能にします。TERADYNE MAVERICK II-STは、システムごとに最大32のテストサイトで、比類のないパフォーマンスとスループットを提供します。ユニークな柔軟なテスト戦略により、効率的なデバッグ、マルチサイトテスト、複数の部品の高速同時試験が可能です。TERADYNE Maverick II STには、さまざまなハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア機能が組み込まれています。機械の広範な範囲の先進的な機能テスターは、ハイピン数、固定不要、リモートソース、バリアスキャン、および低電圧差動シグナリング(LVDS)サポートを含むすべての最新の業界標準を組み込んでいます。これにより、ユーザーはカスタムテストを作成し、ツール機能を迅速かつ正確に検証できます。また、Maverick II STは複数のプログラマブルI/O (PIO)チャネルを備えており、テストをカスタマイズして複雑なトポロジの配線を容易にする柔軟性を提供します。オンボードの診断と分離により、ユーザーはエラーの原因を迅速に特定し、システムのデバッグをこれまで以上に迅速に行うことができます。このアセットには、強力なソフトウェアと、診断およびユーザー定義のテスト/診断アルゴリズムの膨大なライブラリも備えています。高度で統合された診断機能により、機器のパラメータの時間経過との比較や治具管理の監視などの高度なモデル機能を提供します。これにより、ユーザーは大きな問題になる前にシステムの問題を検出して診断することができます。MAVERICK II-STは、24時間のテクニカルサポート、オンサイトインストールとトレーニング、無制限のテクニカルサポート、および包括的なユニットドキュメントを含む包括的なサービスパッケージによって支えられています。市場で最も完全なFTソリューションであり、コストを最小限に抑えながら最高のパフォーマンスと品質を実現できます。
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