中古 NEXTEST / TERADYNE Maverick II PT #9137270 を販売中

NEXTEST/TERADYNE Maverick II PTは、フルスケーラブルで高性能な最終試験装置で、フリップチップからベアダイまで幅広い半導体パッケージに対応します。このシステムは、テストカバレッジとスループットを最大化するように設計されており、高度な集積回路の大量生産を可能にします。NEXTEST MAVERICK II-PTは、自動ピックアンドプレイスハンドリング、高度なテスト機能、高密度プログラマブルな電子ロードボードを備え、テスト並列性を向上させます。また、マルチコネクタオプションと高密度プロービングソリューションも提供しています。TERADYNE MAVERICK II PTは、リアルタイムのビジュアルグラフィックディスプレイを備えた直感的なユーザーインターフェイスを備えており、ユーザーはテストプロセス中のすべての操作を視覚的に監視できます。このユニットには、さまざまな技術や技術を活用したテストを作成するための強力なソフトウェアツールも含まれています。これらのツールは、複雑なテストの迅速かつ簡単な開発、およびデータのキャプチャと分析を可能にします。また、高い柔軟性を備えているため、ユーザーは特定のニーズに応じてテストを素早く簡単にカスタマイズできます。このツールには、高度なテストヘッド制御も装備されており、正確で繰り返し可能なフィードバックテストと詳細な故障解析を可能にします。これには、内蔵のテストセンサーと故障診断機能、診断テストシーケンスとユーザー定義のテストフローのライブラリが含まれ、テストカバレッジを最適化し、診断および故障分離に必要な時間を短縮します。さらに、NEXTEST Maverick II PTは、いくつかのプログラマブルパラメータを備えた完全に構成可能なテストプログラムを備えているため、お客様は特定の要件に合わせてテストプログラムを簡単にカスタマイズできます。このアセットには、他のテスター機器や外部システムとのインタフェースのためのシリアルデータ通信機能も強化されています。これには、最も一般的に使用されるJTAGおよびIEEE-1149.xテストチャネルおよびシリアルプロトコルのサポート、およびユニバーサル非同期レシーバおよびトランスミッタ（UART）および同期通信のサポートが含まれます。さらに、このモデルは、高度なGigaTest技術を含む幅広いATP （Advanced Test Protocol）ベースのテストソリューションに接続し、正確なタイミング検証と診断を保証することもできます。TERADYNE MAVERICK II-PTは、今日の複雑で大量の生産要件に必要な最先端のツール、技術、プロセスを提供するように設計されています。その高度に構成可能なプラットフォーム、堅牢なソフトウェア、高度なインタフェース機能により、半導体生産試験に最適です。この装置は、高速性能と高精度の試験機能を備えているため、ユーザーはスループットを最大化し、コストを削減することができます。