中古 NEXTEST / TERADYNE Maverick I ST #9177077 を販売中

NEXTEST/TERADYNE Maverick I STは、半導体業界のウェーハおよびデバイス試験用に設計された堅牢で高性能な最終試験装置です。このシステムは、さまざまな動作条件にわたる幅広いアプリケーションで複数の個々のコンポーネントを迅速かつ効果的にテストする機能を提供します。高速Cマウントオプティクスを搭載し、高速かつ高精度なイメージングが可能です。光学ツールには、幅広いチップまたはパッケージテスト用のブライトフィールド（BF）とダークフィールド（DF）の両方の構成が含まれています。さらに、アセットの高度な光学パッケージは、より高い試験精度のために、コントラスト調整などの画像強化技術を可能にします。NEXTEST Maverick I STには、ユーザーフレンドリーなプログラマビリティを提供するTEST Automation Suiteなどの強力なソフトウェアが含まれており、テストの迅速なセットアップと統合を可能にし、最適なテスト性能を保証します。さらに、このモデルの自動フォルトローカリゼーションアルゴリズムと画像解析機能により、テスト対象デバイス（DUT）の欠陥を迅速かつ正確に診断することができます。USB、 Ethernet、 Direct Digital Input （DDI）などの複数のインタフェースをサポートし、データ接続とストレージも強化されています。また、最新の移動プラットフォーム（MP）技術にも対応しており、高速x-y-zステージパッケージにより、テストレートの高速化とスループットの向上を実現しています。TERADYNE Maverick I STは、同軸キャリブレーションを内蔵し、パフォーマンスの問題を特定するために特定のプロセス手順を実行する一連の組み込みテストを備えた包括的な診断も提供します。さらに、オプションの熱管理機能を提供し、さまざまな動作条件下で最適なパフォーマンスを保証します。Maverick I STは信頼性が高く、MTBF定格は100万時間を超え、衝撃、振動、および極端な温度変化に耐える能力を備えています。また、簡単なメンテナンスのために設計されており、最新のハードウェア/ソフトウェアアップデートに簡単にアップグレードできます。NEXTEST/TERADYNE Maverick I STは、集積回路、チップ、およびパッケージを一貫して正確にテストするための堅牢で高性能なユニットを提供し、幅広い最終試験アプリケーションに最適です。