中古 NEXTEST / TERADYNE Magnum SV #178628 を販売中
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販売された
ID: 178628
ヴィンテージ: 2008
Tester
Tester Os: H1.1.23A\UI: H2.2.11\h2.3.16A
Pin Count: 1024
Data Rate (Unit:Mhz): 100
VRC-16: 2
ECR (Unit: M): 288
DBM (Unit: M): 288
LVM (Unit: M): 4
Slot A- 0: IPC
Slot A- 1: Site board
Slot A- 2: Site board
Slot A- 3: Site board
Slot A- 4: Site board
Slot A- 5: VRC board
Slot B- 0: IPC
Slot B- 1: Site board
Slot B- 2: Site board
Slot B- 3: Site board
Slot B- 4: Site board
Slot B- 5: VRC board
2008 vintage.
NEXTEST/TERADYNE Magnum SVは、大容量デバイスのテストにオールインワンで費用対効果の高いソリューションを提供する「最終テスト」ソリューションです。この装置は、一般にJTAG規格と呼ばれるIEEE 1149。1規格を中心に設計されており、6〜8インチ/秒の速度で最大8層のプリント基板(PCB)を試験することができます。NEXTEST Magnum SVには、複数の試験計装モジュールから設計データセット(DDS)を読み取り、解釈する検出ロジックコンポーネントがあります。各PCBでは、TERADYNE Magnum SVは一度に64のテストポイントから信号を受信します。設計データセット(DDS)は、専用の決定的テストパターン生成(DTPG)ソフトウェアによって生成され、テストカバレッジと実行時間を最適化します。Magnum SVは、ロジック、デジタルデバイス、アレイ、メモリー、アナログデバイスなど、さまざまなタイプのデバイスをテストできます。このタスクを達成するために、システムのプローブはPCB上の複数のノードに接続され、テスト中に各コンポーネントの状態をマッピングできます。データ収集後、NEXTEST/TERADYNE Magnum SVの高度なData Analysis&Decompilation (DAD)ソフトウェアは、必要に応じて詳細なテスト結果と障害レポートを生成することができます。テスト機能に加えて、NEXTEST Magnum SVは、リアルタイムデータの可視化、プログラマブルな応答速度制御、粒度トレーサビリティなど、幅広い機能にアクセスできます。このユニットには直感的な組み込みグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)も付属しており、パターン生成、視覚化、レポートなどのさまざまなプロセスをカスタマイズできます。結論として、NEXTEST/TERADYNE Magnum SVは、最高レベルの精度とスループットで大量のデバイス試験プロセスを実行するための堅牢なソリューションをユーザーに提供するフル機能の試験機です。プログラム可能な応答速度制御と細かいトレーサビリティの概念を通じて、このツールは単一のプラットフォームでICT、 FVT、 HVT機能を提供し、ユーザーは最小限のコストと時間でテストプロセスを同期することができます。これにより、Magnum SVは大容量メーカーにとって非常に魅力的なソリューションとなります。
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