中古 NEXTEST / TERADYNE Magnum II #9183371 を販売中
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販売された
ID: 9183371
EV System
Stackable chassis
Site assembly includes:
128 Digital channels
Test site controller
Algorithmic pattern generator
(16) DUT Power supplies
(8) System PMU
(128) Per-pin PTU
(16) High voltage pins
128 Channels, tester cable interface
503868 Standard 19" LCD display
Host computer & chassis
Memory options:
Error capture memory option (per 64 channels):
(2) ECR, 36GB / 1.13GB
Row / Column memory (per 64 pins):
RCM, 36MB
Vector memory option, x64 data sources (per 128 channels):
LVM, 64MV / 128MV
Production options:
507931 EV Manipulator / PDU Option
ECR Memories:
ECRM 4 Gbits
ECRS 4 Gbits
DBM memory: 2 Gbits
GPIB Interface
Pattern rate: 50 MHz
100 Mbps DDR Rate on each channel.
NEXTEST/NEXTEST/TERADYNE Magnum II Final Test Equipmentは、最先端のSystem on Chip (SoC)技術に基づいて製造およびデバイスのバーンインを行う、業界をリードする総合的なマルチサイトソリューションです。高い調整性と迅速なモジュラー構成により、さまざまな複雑な設計をコスト効率よく開発、認定、テストできます。NEXTEST Magnum IIは、ユニットの統合時間を短縮し、生産試験カバレッジを向上させ、正確で再現性のある試験結果を提供します。先進/混合信号/アナログおよびデジタルテストに対応するように設計されており、従来の製造と一緒にこれらの技術の任意の数を処理することができます。TERADYNE Magnum IIは、強力でスケーラブルなアーキテクチャで構築されています。これは、最大4つの別々のテストサイトを使用して並列テスト操作をサポートするように設計されており、4つの異なるデバイスの同時テストを可能にします。このマルチサイト構成は、異なるデバイスのサイズと機能をテスト構成に対応させるために適合させることができ、マシンはサイクル時間を短縮して同時テストを実行することができます。また、Magnum IIはサイトごとに最大4つの設定可能なチャンネルカードを備えており、各チャンネルカードを特定の信号やデバイスに設定することができます。さらに、NEXTEST/TERADYNE Magnum IIには、マルチサイトスキャンチェーンや高度なモジュールのテスト/検証など、多数のオンボードモジュラー機能が搭載されており、リアルタイムデバイスのテストを大量生産に最適化できます。NEXTEST Magnum IIは、オンボードイーサネットインターフェイスを介したデータ通信により、生産部門とエンジニアリング部門の間で迅速かつ信頼性の高いデータを転送することができます。このツールは、リモートで制御および監視するように設計されており、ユーザーはテストプログラムを変更し、物理的に存在することなくテスト結果を監視することができます。これにより、テストサイトのトランジット時間による遅延が軽減され、テストが最適なパフォーマンスと豊富なデータ可視性で実行されていることが保証されます。TERADYNE Magnum IIは高度な診断機能を備えており、パラメトリック測定の自動化、許容誤差の検出、および複数箇所のフォルト解析を備えています。これらの機能は、問題を効率的に検出して診断するだけでなく、仕様の実行を特定して追跡することもできます。さらに、Magnum IIにはソフトファイルリミットが内蔵されており、生産テスト中の問題を軽減し、デバイスの歩留まりを高めます。NEXTEST/TERADYNE Magnum IIは、SoCデバイスの効率的なテストとバーンインのための信頼性の高い強力なマルチサイトアセットです。NEXTEST Magnum IIは、4つの異なるデバイスを同時にテストし、テスト時間を短縮し、正確かつ再現可能な結果を提供することで、生産スループットとテストカバレッジを向上させます。柔軟なアーキテクチャと堅牢な診断機能により、統合がさらに簡素化され、デバイスの生産歩留まりが向上します。
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